变容二极管检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.反向击穿电压（V_BR）：测试范围0-200V0.5%，击穿电流阈值设定1μA
2.结电容（C_j）：测量频率1MHz5kHz，电压偏置0-30V可调
3.品质因数（Q值）：频率范围100kHz-1GHz，测试电压5Vrms
4.温度特性：-55℃~+150℃温控箱内测试电容温度系数α_C≤50ppm/℃
5.漏电流（I_R）：反向电压V_R=75%V_BR时测量值≤10nA

检测范围

1.硅基超突变结变容二极管（如BBY系列）
2.GaAs微波变容二极管（MA/COMMA46系列）
3.表面贴装（SMD）微型变容管（JDV2S系列）
4.高温应用陶瓷封装器件（工作温度≥175℃）
5.光控变容二极管（光敏电容调节范围≥3:1）

检测方法

1.IEC60747-1半导体器件通用测试规范
2.GB/T4937-2012半导体器件机械和环境试验方法
3.MIL-STD-750F方法1037反向特性测试
4.JEDECJESD22-A108E温度循环试验
5.ASTMF358-18(2023)微波器件参数测量规程

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持2000V/1000A脉冲测试
2.Agilent4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz频段C-V特性测量
3.TemptronicTP04300热流仪：-70℃~+225℃快速温变控制
4.R&SZNB40矢量网络分析仪：10MHz-40GHzS参数测试
5.Keithley2636B源表：100fA分辨率漏电流检测
6.ESPECSH-642恒温恒湿箱：0.5℃温控精度
7.TektronixDPO7254示波器：2.5GHz带宽瞬态响应分析
8.Chroma19053耐压测试仪：AC/DC5kV绝缘强度验证
9.AdvantestU3741LCR表：0.05%基本精度电容测量
10.ThermonicsT-3000C真空探针台：10^-6Torr环境参数测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质