非线性光学效应检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.二阶非线性极化率(χ)：测量范围10⁻~10⁻⁹m/V，波长覆盖400-1600nm
2.三阶非线性折射率(n₂)：精度5%，测试强度阈值＞1GW/cm
3.双光子吸收系数(β)：动态范围0.01-10cm/GW，重复频率1kHz-80MHz
4.自聚焦临界功率(Pcr)：测量误差＜3%，空间分辨率1μm
5.光克尔效应响应时间：时间分辨率150fs，温度控制0.5℃

检测范围

1.铌酸锂(LiNbO₃)、磷酸钛氧钾(KTP)等非线性晶体
2.GaAs、ZnSe等III-V族半导体材料
3.聚二乙炔(PDA)、偶氮苯聚合物等有机材料
4.量子点/石墨烯复合纳米材料
5.硫系玻璃光纤(As₂S₃、Ge-Sb-Se体系)

检测方法

1.Z扫描法：依据ISO13695:2019光学非线性测量标准
2.四波混频法：执行ASTME2175-01(2020)测试规程
3.Maker条纹法：符合GB/T31227-2014晶体参数测试规范
4.超连续谱分析法：参照IEC62878-2:2019光子器件标准
5.泵浦探测法：采用GB/T39143-2020超快光学测量要求

检测设备

1.CoherentAstrella飞秒激光器：波长调节范围690-1040nm，脉宽＜35fs
2.AndoAQ6317B光谱分析仪：分辨率0.05nm，波长精度0.02nm
3.ThorlabsPM320E功率计：量程50nW-2W，线性度0.8%
4.Newport1918-R光强衰减器：衰减范围0-60dB，精度0.05dB
5.HamamatsuC10910D条纹相机：时间分辨率200fs，光谱响应300-1600nm
6.KeysightN9020B信号分析仪：带宽44GHz，相位噪声-140dBc/Hz
7.OphirPD300-UV光电探测器：响应时间＜1ns，损伤阈值3J/cm
8.PIS-340高速位移台：定位精度50nm，重复性15nm
9.Agilent4294A阻抗分析仪：频率范围40Hz-110MHz，基本精度0.08%
10.LabsphereLMS-760积分球：直径75mm，反射率＞98%

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质