脏度检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.颗粒物残留量：粒径范围0.1-500μm，密度阈值≤5particles/cm（SEM成像分析）

2.有机污染物浓度：碳氢化合物含量≤50μg/cm（FTIR光谱法）

3.离子污染度：Na+/K+/Cl-总量≤1.56μg/cm（离子色谱法）

4.微生物负载量：菌落总数≤100CFU/25cm（ATP生物荧光法）

5.表面能变化：接触角偏差≤5（动态润湿角测试）

检测范围

1.金属材料：航空铝合金/钛合金表面氧化层洁净度评估

2.电子元件：PCB板焊盘离子残留与助焊剂结晶分析

3.医疗器械：植入物表面蛋白质吸附量测定

4.光学元件：镜片镀膜层微粒污染度检验

5.包装材料：药品铝箔内壁有机物迁移量测试

检测方法

ASTMF312-08《金属表面微粒污染测试规程》

ISO16232-2018《道路车辆-流体系统部件清洁度》

GB/T34896-2017《微电子器件表面洁净度分级》

ASTME1216-11《表面污染物取样规程》

GB/T38261-2019《纳米材料表面污染物测定方法》

检测设备

FEIQuanta650FEG场发射扫描电镜：实现0.8nm分辨率微粒形貌分析

ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪：有机污染物指纹图谱库比对

Metrohm930CompactICFlex离子色谱仪：ppb级阴/阳离子同步检测

KLATencorP-17表面轮廓仪：三维污染物高度分布测绘

PallGeneDisc微生物快速检测系统：25分钟完成生物负载定量

KrssDSA100E动态接触角测量仪：表面能变化实时监测系统

ParticleMeasuringSystemsLS-C液体颗粒计数器：0.1μm粒径分级统计

OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：亚微米级污染物三维重构

SartoriusCPA225D精密天平：μg级污染物质量测定模块

PerkinElmerNexION350DICP-MS：金属元素痕量分析系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质