偏光显微术检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.双折射率测定：测量范围0.001-0.300，精度0.0005
2.消光角分析：角度分辨率0.1，重复性误差≤0.3
3.晶体形貌表征：空间分辨率0.5μm，放大倍数50-1000X
4.应力分布检测：灵敏度0.1nm/cm，测量区域≥10μm
5.取向度测量：取向因子计算误差≤2%，支持二维取向分布图

检测范围

1.高分子材料：聚乙烯薄膜结晶度分析、聚丙烯纤维取向度测定
2.矿物岩石：石英双折射率测定、方解石晶体结构表征
3.液晶显示材料：TFT-LCD盒厚测量精度0.05μm
4.生物组织：胶原纤维排列方向分析误差≤3
5.金属合金：冷轧板材残余应力分布检测

检测方法

ASTME766-14(2020)：偏光显微镜校准规范
ISO8578:2017：矿物薄片光学特性测试方法
GB/T20307-2018：晶体材料双折射率测量通则
GB/T19421.3-2008：层状晶体分子取向测定法
ISO21363:2020：纳米材料晶体结构表征技术规范

检测设备

1.OlympusBX53-P：配备U-CTB偏振器组，支持λ补偿器定量测量
2.LeicaDM4P：配置LAS图像分析模块，可实现自动消光角计算
3.NikonLV100ND-POL：集成DS-Fi3相机系统，支持500万像素数字成像
4.ZeissAxioImagerM2m：搭配CRYSTAL偏振组件，双折射率测量精度达0.0003
5.KeyenceVHX-7000：具备3D偏振成像功能，最大放大倍数5000X
6.HitachiTM4000-POL：台式电镜联用系统，支持微区应力分析
7.BrukerContourGT-X3：白光偏振干涉仪，表面粗糙度检测分辨率0.1nm
8.ShimadzuAIM-9000：高温偏振模块工作温度范围25-1500℃
9.AgilentCary7000：全自动紫外-可见偏振光谱系统
10.MalvernMorphologi4-POL：集成激光散射的颗粒形貌分析系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质