多枚砂粒大小检测
多枚砂粒大小检测摘要：检测项目1.平均粒径（D50）：表征颗粒群中50%体积对应的粒径值（μm）2.粒径分布跨度：(D90-D10)/D50≤0.8为单分散体系3.形状系数：圆形度≥0.85（ISO13322-1:2014）4.比表面积：BET法测定（0.1-1000m/g）5.堆积密度：按GB/T16913-2008测定（g/cm）检测范围1.铸造用砂：硅砂/锆砂（AFS细度40-120）2.陶瓷原料：高岭土/石英粉（D97≤45μm）3.石油压裂砂：20/40目（425-850μm）4.3D打印耗材：尼龙粉末（15-60μ
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.平均粒径（D50）：表征颗粒群中50%体积对应的粒径值（μm）
2.粒径分布跨度：(D90-D10)/D50≤0.8为单分散体系
3.形状系数：圆形度≥0.85（ISO13322-1:2014）
4.比表面积：BET法测定（0.1-1000m/g）
5.堆积密度：按GB/T16913-2008测定（g/cm）
检测范围
1.铸造用砂：硅砂/锆砂（AFS细度40-120）
2.陶瓷原料：高岭土/石英粉（D97≤45μm）
3.石油压裂砂：20/40目（425-850μm）
4.3D打印耗材：尼龙粉末（15-60μm）
5.研磨介质：碳化硅微粉（F230-F2000）
检测方法
1.激光衍射法：ASTMB822-20/MalvernMastersizer
2.动态图像分析：ISO13322-2:2021/RetschCAMSIZER
3.筛分法：GB/T19077-2016/Φ200标准筛组
4.沉降法：GB/T6524-2003/安德森移液管
5.电子显微镜法：SEM/TEM纳米级测量（ISO21363:2020）
检测设备
1.马尔文Mastersizer3000：0.01-3500μm激光粒度仪
2.贝克曼库尔特LS13320：湿法/干法双模系统
3.麦奇克Bettersize2600：全自动图像粒度仪
4.RetschCAMSIZERX2：动态颗粒形态分析系统
5.岛津SALD-7500nano：纳米级粒度分析仪
6.精微高博JW-BK200C：比表面积测定仪
7.丹东百特BT-9300ST：激光散射沉降联用仪
8.欧美克LS-C（ⅡA）：全量程激光粒度仪
9.真理光学Winner2308：干湿法两用粒度仪
10.FEIQuanta650FEG：场发射扫描电镜
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析多枚砂粒大小检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
30420
