布鲁斯特角入射检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.入射角精度验证：测量范围55-65，分辨率0.01，误差0.1
2.P偏振光反射率测试：波长范围400-1100nm，灵敏度0.5%
3.消光比测定：动态范围≥30dB，重复性误差≤1.5%
4.相位延迟分析：测量精度λ/200@632.8nm
5.材料折射率计算：基于Fresnel方程推导，误差0.002

检测范围

1.光学玻璃基板（BK7、熔融石英等）
2.纳米级薄膜材料（ITO、SiO₂/TiO₂多层膜）
3.半导体晶圆（Si、GaAs、InP）
4.高分子聚合物薄膜（PET、PC、PMMA）
5.金属氧化物涂层（Al₂O₃、ZrO₂镀层）

检测方法

1.ASTME903-20材料光谱反射率标准测试法
2.ISO13696:2002光学元件散射特性测量规范
3.GB/T26333-2010椭偏法测量薄膜厚度技术规程
4.ISO15368:2021光学系统偏振特性测试标准
5.GB/T36230-2018激光光学元件表面特性测试方法

检测设备

1.J.A.WoollamM-2000D型光谱椭偏仪：波长范围245-1700nm，入射角调节精度0.005
2.HoribaUVISEL2相位调制椭偏仪：配备自动θ-2θ旋转平台
3.AgilentCary7000全能型分光光度计：支持V-W绝对反射测量模式
4.ThorlabsPAX1000偏振分析仪：波长覆盖400-1100nm，消光比测量精度0.1dB
5.BrukerD8Discover高分辨X射线衍射仪：用于验证晶体材料各向异性
6.OceanInsightFX系列光纤光谱仪：集成余弦校正器与SMA905接口
7.Newport1918-C光功率计：配合818系列探头实现nW级弱光检测
8.LabsphereCAS140D成像光谱辐射计：空间分辨率达15μm
9.ShimadzuAIM-9000红外显微镜：支持微区反射率测量功能
10.ZygoVerifireMST激光干涉仪：面形精度λ/100PV值

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质