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布鲁斯特角入射检测

2025-05-20 关键词:布鲁斯特角入射测试机构,布鲁斯特角入射测试案例,布鲁斯特角入射测试周期 相关:
布鲁斯特角入射检测

布鲁斯特角入射检测摘要:检测项目1.入射角精度验证:测量范围55-65,分辨率0.01,误差0.12.P偏振光反射率测试:波长范围400-1100nm,灵敏度0.5%3.消光比测定:动态范围≥30dB,重复性误差≤1.5%4.相位延迟分析:测量精度λ/200@632.8nm5.材料折射率计算:基于Fresnel方程推导,误差0.002检测范围1.光学玻璃基板(BK7、熔融石英等)2.纳米级薄膜材料(ITO、SiO₂/TiO₂多层膜)3.半导体晶圆(Si、GaAs、InP)4.高分子聚合物薄膜(PET、PC、PMMA)5.金属氧化

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.入射角精度验证:测量范围55-65,分辨率0.01,误差0.1
2.P偏振光反射率测试:波长范围400-1100nm,灵敏度0.5%
3.消光比测定:动态范围≥30dB,重复性误差≤1.5%
4.相位延迟分析:测量精度λ/200@632.8nm
5.材料折射率计算:基于Fresnel方程推导,误差0.002

检测范围

1.光学玻璃基板(BK7、熔融石英等)
2.纳米级薄膜材料(ITO、SiO₂/TiO₂多层膜)
3.半导体晶圆(Si、GaAs、InP)
4.高分子聚合物薄膜(PET、PC、PMMA)
5.金属氧化物涂层(Al₂O₃、ZrO₂镀层)

检测方法

1.ASTME903-20材料光谱反射率标准测试法
2.ISO13696:2002光学元件散射特性测量规范
3.GB/T26333-2010椭偏法测量薄膜厚度技术规程
4.ISO15368:2021光学系统偏振特性测试标准
5.GB/T36230-2018激光光学元件表面特性测试方法

检测设备

1.J.A.WoollamM-2000D型光谱椭偏仪:波长范围245-1700nm,入射角调节精度0.005
2.HoribaUVISEL2相位调制椭偏仪:配备自动θ-2θ旋转平台
3.AgilentCary7000全能型分光光度计:支持V-W绝对反射测量模式
4.ThorlabsPAX1000偏振分析仪:波长覆盖400-1100nm,消光比测量精度0.1dB
5.BrukerD8Discover高分辨X射线衍射仪:用于验证晶体材料各向异性
6.OceanInsightFX系列光纤光谱仪:集成余弦校正器与SMA905接口
7.Newport1918-C光功率计:配合818系列探头实现nW级弱光检测
8.LabsphereCAS140D成像光谱辐射计:空间分辨率达15μm
9.ShimadzuAIM-9000红外显微镜:支持微区反射率测量功能
10.ZygoVerifireMST激光干涉仪:面形精度λ/100PV值

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析布鲁斯特角入射检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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