试验粒度检测
试验粒度检测摘要：检测项目1.粒径分布：测定0.1μm-3500μm范围内的体积/数量分布2.D50值：确定中位粒径精度1%3.比表面积：BET法测量范围0.01-2000m/g4.颗粒形貌：球形度与长径比定量分析5.Zeta电位：测量范围200mV（适用于胶体体系）6.孔隙率：孔径分布测试0.35-500nm检测范围1.金属粉末：钛合金/铝合金等增材制造原料2.陶瓷粉末：氧化铝/碳化硅等烧结材料3.药品原料：API颗粒/药用辅料4.纳米材料：量子点/碳纳米管等新型材料5.工业粉体：水泥/涂料/催化剂等生产原料检测方法1.
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.粒径分布：测定0.1μm-3500μm范围内的体积/数量分布
2.D50值：确定中位粒径精度1%
3.比表面积：BET法测量范围0.01-2000m/g
4.颗粒形貌：球形度与长径比定量分析
5.Zeta电位：测量范围200mV（适用于胶体体系）
6.孔隙率：孔径分布测试0.35-500nm
检测范围
1.金属粉末：钛合金/铝合金等增材制造原料
2.陶瓷粉末：氧化铝/碳化硅等烧结材料
3.药品原料：API颗粒/药用辅料
4.纳米材料：量子点/碳纳米管等新型材料
5.工业粉体：水泥/涂料/催化剂等生产原料
检测方法
1.激光衍射法：ASTMB822-20/GB/T19077-2016
2.动态光散射法：ISO22412-2017/GB/T19627-2005
3.筛分分析法：ISO2591-1:1988/GB/T6003.1-2012
4.气体吸附法：ISO9277:2010/GB/T19587-2017
5.图像分析法：ASTME2651-19/GB/T21649.1-2008
检测设备
1.MalvernMastersizer3000：激光衍射仪（0.01-3500μm）
2.BeckmanCoulterLS13320：多波长粒度分析仪
3.MicromeriticsTriStarIIPlus：比表面及孔隙度分析仪
4.HoribaSZ-100Z：纳米颗粒Zeta电位分析仪
5.SympatecHELOS/RODOS：干法分散激光粒度仪
6.ShimadzuSALD-7500nano：纳米粒度分析系统
7.BettersizeBT-9300ST：湿法激光粒度仪
8.AntonPaarLitesizer500：动态光散射分析仪
9.MicrotracMRBCAMSIZERX2：动态图像分析系统
10.QuantachromeNOVA4200e：多站比表面测定仪
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
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