甲基锗检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.甲基锗纯度测定：采用气相色谱法（GC）测定主成分含量≥99.99%
2.有机杂质分析：通过GC-MS联用技术检测烷基硅氧烷类杂质≤50ppm
3.无机金属残留：ICP-OES法测定铁（Fe）、铜（Cu）、镍（Ni）等重金属总量≤100ppb
4.水分含量测试：卡尔费休库仑法控制H₂O含量≤200ppm
5.热稳定性评估：TGA热重分析法测定分解温度≥280℃
6.晶体结构表征：XRD衍射分析半峰宽（FWHM）≤0.15
7.表面形貌观测：SEM扫描电镜观察颗粒粒径分布1-5μm

检测范围

1.半导体级三甲基锗（Ge(CH₃)₃）原料
2.医药中间体二甲基锗氧烷聚合物
3.光学镀膜用四甲基锗蒸气源
4.催化剂前驱体甲基锗氯化物
5.高分子材料改性剂含锗有机硅化合物
6.纳米材料合成用锗基MOF前体
7.特种润滑剂中甲基锗添加剂

检测方法

1.ASTME2941-21《有机金属化合物纯度测定标准规程》
2.ISO17052:2015《金属有机物中痕量元素分析通则》
3.GB/T11064.1-2020《锂化学分析方法第1部分：水分的测定》
4.JISK0119:2022《气相色谱分析通则》
5.GB/T33324-2016《有机硅产品中氯离子含量测定》
6.ISO11358-1:2022《塑料热重分析法（TGA）》
7.ASTMB822-20《金属粉末粒度分布标准测试方法》

检测设备

1.Agilent7890B气相色谱仪：配备FID检测器，分辨率0.1ppm
2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：检出限达ppt级
3.METTLERTOLEDOC30S卡尔费休水分仪：测量精度1μg
4.ShimadzuXRD-7000X射线衍射仪：角度重复性0.0001
5.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪：温度范围RT~1500℃
6.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV
7.WatersXevoG2-XSQTOF质谱仪：质量精度＜1ppm
8.BrukerAVANCEIIIHD核磁共振波谱仪：频率600MHz
9.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
10.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪：空间分辨率250nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质