与门检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.导通电阻：测量输入/输出端导通状态阻抗值（0.5-2.0Ω），精度1%

2.绝缘电阻：测试非导通状态下隔离阻抗（≥100MΩ@500VDC）

3.传输延迟时间：记录输入信号到输出响应时间（1-15ns）

4.功耗电流：监测静态/动态工作电流（μA~mA级）

5.温度特性：验证-55℃~+125℃工作范围内参数漂移（5%）

6.抗静电能力：ESD防护等级测试（HBM模式8kV）

检测范围

1.硅基半导体逻辑门电路（CMOS/TTL工艺）

2.砷化镓高频逻辑器件

3.嵌入式系统集成逻辑模块

4.功率逻辑驱动组件

5.航天级抗辐射加固器件

6.汽车电子专用耐高温组件

检测方法

1.电性能测试：依据IEC60747-14标准进行动态特性分析

2.环境试验：按GB/T2423系列完成温度循环（-55℃~+125℃）及湿热试验（95%RH）

3.耐久性评估：参照MIL-STD-883Method1005执行机械应力测试

4.信号完整性：采用ASTMF1241规范进行上升/下降时间测量

5.EMC兼容性：依据CISPR25标准实施辐射发射测试

6.失效分析：执行JEDECJESD22-A110规定的加速寿命试验

检测设备

1.KeysightB1500A半导体分析仪：精密测量纳安级漏电流及皮法级寄生电容

2.TektronixDPO73304S示波器：30GHz带宽捕捉亚纳秒级信号跳变

3.ThermotronESX-3M温箱：实现0.5℃精度的三温区循环测试

4.Chroma3380PVI多路电源系统：同步监控32通道供电参数

5.EMTESTUCS500N静电发生器：满足IEC61000-4-2Level4放电要求

6.AgilentN9020B频谱分析仪：9kHz~26.5GHz频段EMI辐射扫描

7.HiokiIM3536LCR表：10μHz~8MHz宽频阻抗特性分析

8.Fluke6100B功率标准源：0.05级精度电能质量模拟

9.ESPECSH-641盐雾箱：符合NSS/AASS/CASS多种腐蚀试验模式

10.OlympusDSX1000数码显微镜：1500倍光学放大进行失效定位分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质