嵌布构造检测摘要:检测项目1.嵌布厚度测量:分辨率0.1μm级层厚分析(测量范围0.5-500μm)2.界面结合强度测试:剪切强度(0-500MPa)、剥离强度(0-50N/mm)3.孔隙率测定:孔径分布(10nm-200μm)、孔隙率(0.01-30%)4.元素扩散层分析:扩散深度(1-1000μm)、浓度梯度(0.1at%)5.晶粒取向测定:EBSD取向差角(0.1-45)、织构系数(0-10)检测范围1.粉末冶金制品:硬质合金/金属陶瓷复合结构2.热喷涂涂层:等离子喷涂WC-Co/NiCr涂层体系3.半导体封装材料:
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.嵌布厚度测量:分辨率0.1μm级层厚分析(测量范围0.5-500μm)
2.界面结合强度测试:剪切强度(0-500MPa)、剥离强度(0-50N/mm)
3.孔隙率测定:孔径分布(10nm-200μm)、孔隙率(0.01-30%)
4.元素扩散层分析:扩散深度(1-1000μm)、浓度梯度(0.1at%)
5.晶粒取向测定:EBSD取向差角(0.1-45)、织构系数(0-10)
1.粉末冶金制品:硬质合金/金属陶瓷复合结构
2.热喷涂涂层:等离子喷涂WC-Co/NiCr涂层体系
3.半导体封装材料:Cu/Sn-Ag-Cu焊料界面反应层
4.地质样品:矿石矿物共生嵌布特征
5.梯度功能材料:Ti/TiB/TiB2多相复合体系
ASTME384-22微压痕硬度法测定界面力学性能
ISO25178-2:2022表面形貌三维重构技术
GB/T1771-2007盐雾试验评价耐蚀性能
ASTME112-13晶粒度定量金相分析法
ISO14577-1:2015仪器化压痕模量测试
GB/T3505-2009表面粗糙度轮廓法测量
蔡司Sigma300场发射扫描电镜:配备EDS/EBSD联用系统(分辨率0.8nm)
布鲁克D8ADVANCEX射线衍射仪:Cu靶Kα辐射(2θ精度0.0001)
岛津AGS-X万能试验机:100kN载荷传感器(位移分辨率0.1μm)
牛津仪器X-MaxN80能谱仪:硅漂移探测器(能量分辨率127eV)
莱卡DM2700P偏光显微镜:透/反射双模式(最大倍率1000)
安东帕TTX-NHT3纳米压痕仪:最大载荷500mN(深度分辨率0.04nm)
基恩士VHX-7000数字显微镜:20-6000倍连续变焦(景深合成功能)
赛默飞iCAPRQICP-MS:检出限ppt级(质量范围2-270amu)
马尔文Mastersizer3000激光粒度仪:测量范围10nm-3.5mm(湿法/干法模块)
英斯特朗5985疲劳试验机:动态载荷25kN(频率范围0.001-100Hz)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析嵌布构造检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师
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