擦地入射检测摘要:检测项目1.入射角精度验证:测量范围0-85,分辨率0.012.反射率偏差分析:波长覆盖250-2500nm,精度0.5%3.表面粗糙度测定:Ra值测量范围0.01-10μm4.膜层厚度校准:分辨率达0.1nm(适用于5-5000nm厚度)5.耐磨损性能测试:载荷0.1-10N线性可调6.偏振特性表征:消光比≥10000:1检测范围1.金属镀层材料(金/银/铝反射膜)2.光学薄膜系统(增透膜/分光膜/滤光片)3.半导体晶圆表面处理层4.精密机械轴承抛光面5.航天器热控涂层材料6.
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.入射角精度验证:测量范围0-85,分辨率0.01
2.反射率偏差分析:波长覆盖250-2500nm,精度0.5%
3.表面粗糙度测定:Ra值测量范围0.01-10μm
4.膜层厚度校准:分辨率达0.1nm(适用于5-5000nm厚度)
5.耐磨损性能测试:载荷0.1-10N线性可调
6.偏振特性表征:消光比≥10000:1
1.金属镀层材料(金/银/铝反射膜)
2.光学薄膜系统(增透膜/分光膜/滤光片)
3.半导体晶圆表面处理层
4.精密机械轴承抛光面
5.航天器热控涂层材料
6.医疗内窥镜光学元件
ASTME903-20:材料太阳吸收率标准测试方法
ISO13696:2002:光学元件散射特性测量规范
GB/T26323-2010:色散型红外光谱分析方法
ISO14707:2015:辉光放电光谱法表面分析通则
GB/T22461-2008:表面粗糙度比较样块校准规范
ASTMB748-90(2021):通过测量电阻率测定金属涂层厚度
1.J.A.WoollamM-2000UI型全自动椭偏仪(宽光谱膜厚测量)
2.BrukerContourGT-X3白光干涉仪(三维形貌分析)
3.ShimadzuISR-2600Plus积分球分光光度计(半球反射率测定)
4.ZygoNewView9000激光干涉仪(纳米级表面粗糙度检测)
5.AgilentCary7000全能型分光光度计(紫外-可见-近红外全波段分析)
6.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜(亚微米级缺陷检测)
7.AntonPaarTRB摩擦磨损试验机(动态载荷磨损模拟)
8.HoribaJobinYvonUVISEL2相位调制椭偏仪(实时原位监测)
9.Keysight5500原子力显微镜(原子级表面表征)
10.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪(化学键合状态分析)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析擦地入射检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师