初级粒子检测
初级粒子检测摘要：检测项目1.粒径分布：测量范围10nm-3mm，分辨率1nm（D50值）2.比表面积：BET法测定精度3%，孔径分析范围0.35-500nm3.形貌特征：SEM/TEM成像分辨率≤1nm（二次电子模式）4.Zeta电位：测量范围200mV，温度控制0.1℃5.团聚指数：基于动态光散射法测定PDI值≤0.7检测范围1.纳米材料：碳纳米管、量子点、金属氧化物纳米颗粒2.金属粉末：316L不锈钢粉、钛合金粉（粒径≤45μm）3.陶瓷材料：氧化铝微珠、氮化硅粉体（纯度≥99.9%）4.高分子微粒：PLGA微球、聚
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.粒径分布：测量范围10nm-3mm，分辨率1nm（D50值）
2.比表面积：BET法测定精度3%，孔径分析范围0.35-500nm
3.形貌特征：SEM/TEM成像分辨率≤1nm（二次电子模式）
4.Zeta电位：测量范围200mV，温度控制0.1℃
5.团聚指数：基于动态光散射法测定PDI值≤0.7
检测范围
1.纳米材料：碳纳米管、量子点、金属氧化物纳米颗粒
2.金属粉末：316L不锈钢粉、钛合金粉（粒径≤45μm）
3.陶瓷材料：氧化铝微珠、氮化硅粉体（纯度≥99.9%）
4.高分子微粒：PLGA微球、聚苯乙烯标准颗粒
5.生物制剂：脂质体载药系统、疫苗佐剂微粒
检测方法
1.ASTMB822-20金属粉末粒度激光衍射法
2.ISO13320:2020粒度分析-激光衍射通用原则
3.GB/T19077-2016粒度分布-激光衍射法
4.ISO9277:2010BET法比表面测定技术规范
5.GB/T19627-2005粒度分析-光子相关光谱法
检测设备
1.马尔文Mastersizer3000：激光衍射粒度仪，量程0.01-3500μm
2.布鲁诺尔Emperor3000：全自动比表面及孔隙度分析仪
3.日立SU9000场发射电镜：分辨率0.4nm@15kV（STEM模式）
4.贝克曼DelsaMaxPro：动态/静态光散射联用Zeta电位仪
5.安捷伦8900ICP-MS：元素分析检出限≤ppt级
6.QuantachromeAutosorb-iQ：物理吸附仪（77K低温系统）
7.麦奇克BI-200SM：广角动静态光散射系统
8.FEITalosF200X：透射电镜配备超快能谱仪
9.岛津SALD-7500nano：纳米粒度分析仪（干湿两用）
10.MicromeriticsGeoPyc1365：真密度分析仪（气体置换法）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
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