边缘增强检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.边缘锐度测量：采用梯度分析法量化边缘过渡区宽度（ETW），测量范围0.1-100μm，分辨率达0.02μm

2.对比度阈值检测：基于灰度直方图统计确定有效对比度阈值（CT），动态范围覆盖0.5%-5%

3.噪声抑制比（NSR）：计算信噪比提升幅度（ΔSNR），基准值≥20dB@1kHz带宽

4.伪影消除率：通过FFT频域分析评估伪影抑制能力（PAR），要求≥98%@10-1000Hz干扰频段

5.算法响应时间：测量系统从信号输入到输出延迟（RT），工业级标准≤50ms@1080P分辨率

检测范围

1.光学元件：包括非球面透镜、衍射光栅等超精密表面轮廓

2.半导体晶圆：12英寸硅片切割边缘的微裂纹与崩边缺陷

3.金属加工件：航空钛合金构件铣削面的毛刺高度（≤5μm）

4.复合材料结构件：碳纤维层合板的分层界面清晰度

5.精密模具：微注塑模具流道结构的边缘粗糙度Ra≤0.1μm

检测方法

1.ASTME1817-2018《光学轮廓法测定表面边缘特性标准规程》

2.ISO16610-22:2015《几何产品规范(GPS)-滤波第22部分：线性轮廓滤波器》

3.GB/T13989-2018《数字图像处理术语与测量方法》

4.ISO25178-2:2022《产品几何技术规范(GPS)-表面结构:区域法》

5.GB/T3505-2021《产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法术语定义及参数》

检测设备

1.KeyenceVR-3200三维轮廓仪：配备2000万像素CMOS与双远心镜头，Z轴重复精度0.05μm

2.OlympusDSX1000数码显微镜：20-7000倍连续变倍系统支持HDR成像

3.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：垂直分辨率0.01nm@20x物镜

4.ZeissO-Inspect543多传感器系统：集成接触式探针与共聚焦扫描模块

5.MitutoyoQuickVisionPro影像测量仪：XYZ轴精度(1.5+L/200)μm

6.NikonNEXIVVMZ-S6520视频测量系统：配备激光辅助对焦功能

7.HexagonAbsoluteArm7轴测量臂：空间精度15μm+6μm/m

8.AliconaInfiniteFocusG5光学3D测量仪：轴向分辨率10nm@20x物镜

9.JenoptikOGPSmartScopeFlash500：多光谱照明系统支持12种波长组合

10.VisionEngineeringLynxEVO体视显微镜：动态变焦比18:1无级调节

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质