长波限检测摘要:检测项目1.截止波长(Cut-offwavelength)检测:测定材料在50%峰值响应率对应的波长值(单位:μm0.02)2.光谱响应度(Spectralresponsivity)曲线:扫描800-3000nm波段内每10nm间隔的响应度(mA/W)3.量子效率衰减点(QEroll-offpoint):确定量子效率下降至峰值80%时的临界波长4.暗电流特性(Darkcurrent):在300K温度下测量长波限对应电压的暗电流密度(nA/cm)5.噪声等效功率(NEP):在目标波长下测试最小可探测功率(W
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.截止波长(Cut-offwavelength)检测:测定材料在50%峰值响应率对应的波长值(单位:μm0.02)
2.光谱响应度(Spectralresponsivity)曲线:扫描800-3000nm波段内每10nm间隔的响应度(mA/W)
3.量子效率衰减点(QEroll-offpoint):确定量子效率下降至峰值80%时的临界波长
4.暗电流特性(Darkcurrent):在300K温度下测量长波限对应电压的暗电流密度(nA/cm)
5.噪声等效功率(NEP):在目标波长下测试最小可探测功率(W/Hz/)
1.红外探测器:硫化铅(PbS)、碲镉汞(HgCdTe)等光导型探测器
2.光伏材料:III-V族半导体(InGaAs、InSb)外延片
3.光学镀膜:锗(Ge)、硅(Si)基长波通滤光片
4.热成像系统:非制冷型微测辐射热计焦平面阵列
5.光纤通信器件:1550nm/1625nm波分复用器截止特性
ASTME1028-23:采用单色仪扫描法测定光电探测器光谱响应特性
ISO18537:2020:基于傅里叶变换红外光谱(FTIR)的长波限标定规程
GB/T13583-2018:光电子器件长波限测试通用技术要求
GB/T31370.2-2020:半导体光电器件第2部分:长波限测试方法
IEC60747-5-3:2021:分立半导体器件光电参数测试规范
1.珀金埃尔默Lambda1050+紫外可见近红外分光光度计(波长范围175-3300nm)
2.BrukerVertex80v真空型傅里叶变换红外光谱仪(覆盖20-15000cm⁻波段)
3.NewportOrielCS2601/4m单色仪系统(配液氮制冷PbS探测器)
4.KeysightB2902A精密源表(10fA分辨率暗电流测试)
5.LabsphereURS-1000D均匀辐射源(黑体温度范围300-1200K)
6.ThorlabsPM320E热电功率计(波长范围200-11000nm)
7.Agilent4156C半导体参数分析仪(支持多通道同步测量)
8.JanisST-500低温恒温器(温度控制范围4K-500K)
9.OphirPD300-3W光电二极管测试头(3mm孔径校准基准)
10.HoribaiHR550成像光谱仪(空间分辨率≤5μm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析长波限检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师