电子波函数检测摘要:检测项目1.能带结构分析:测量能量范围10eV内电子态分布,动量分辨率≤0.01⁻2.费米面拓扑表征:三维动量空间成像精度达0.005⁻3.局域态密度测量:能量分辨率≤5meV@1K低温环境4.自旋极化率测试:极化角分辨精度0.15.相位相干长度测定:空间分辨率优于0.1nm检测范围1.III-V族半导体异质结(GaAs/AlGaAs等)2.高温超导铜氧化物(YBCO、BSCCO等)3.二维材料体系(石墨烯、过渡金属硫化物)4.拓扑绝缘体单晶(Bi₂Se₃、Sb₂Te₃)5.量子点阵列器件(CdSe/Zn
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.能带结构分析:测量能量范围10eV内电子态分布,动量分辨率≤0.01⁻
2.费米面拓扑表征:三维动量空间成像精度达0.005⁻
3.局域态密度测量:能量分辨率≤5meV@1K低温环境
4.自旋极化率测试:极化角分辨精度0.1
5.相位相干长度测定:空间分辨率优于0.1nm
1.III-V族半导体异质结(GaAs/AlGaAs等)
2.高温超导铜氧化物(YBCO、BSCCO等)
3.二维材料体系(石墨烯、过渡金属硫化物)
4.拓扑绝缘体单晶(Bi₂Se₃、Sb₂Te₃)
5.量子点阵列器件(CdSe/ZnS核壳结构)
1.角分辨光电子能谱法(ARPES):符合ISO18516:2019表面分析标准
2.扫描隧道显微谱学(STS):执行GB/T35031-2018纳米尺度电学测量规范
3.X射线光电子衍射(XPD):参照ASTME2108-16表面结构分析规程
4.磁光克尔效应测量:采用GB/T40793-2021磁有序材料测试方法
5.超快时间分辨光谱:依据ISO/TR19838:2016时间分辨光谱技术指南
1.SPECSPHOIBOS150半球形分析器:能量分辨率<3meV@5kV加速电压
2.ScientaOmicronDA30L角分辨谱仪:最大接受角30,动量精度0.002⁻
3.OmicronLT-STM低温扫描隧道显微镜:工作温度0.4K,空间分辨率0.05nm
4.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:CuKα光源(λ=1.5406),角度重复性0.0001
5.AttocubeattoDRY2100闭循环制冷系统:基础温度<300mK,磁场强度14T
6.JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜:空间分辨率0.05nm@300kV
7.OxfordInstrumentsSpectromag系统:旋转样品架角度精度0.01
8.RHKTechnologyR9控制器:电流灵敏度10fA@1kHz带宽
9.FemtoLASERSCEPHEUSHR高频激光器:脉冲宽度<15fs@800nm波长
10.LakeShore475型振动样品磁强计:磁场灵敏度10⁻⁶emu@1T场强
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析电子波函数检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师