黑体源检测
黑体源检测摘要：检测项目1.发射率测定：波长范围0.3-20μm波段积分发射率（ε≥0.85）2.温度均匀性：工作区间300-2000K时表面温差ΔT≤1.5%3.光谱响应特性：2-14μm波段光谱分辨率≤4nm4.热稳定性测试：连续工作72小时性能波动≤0.025.角度依赖性：入射角0-85时发射率变化量δ≤0.03检测范围1.航天器热控涂层（多层隔热组件/辐射制冷薄膜）2.工业高温炉衬材料（碳化硅/氧化锆基复合材料）3.电子封装散热基板（氮化铝/金刚石复合基材）4.红外伪装涂层（多波段兼容型功能涂料）5.太阳能集热器
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.发射率测定：波长范围0.3-20μm波段积分发射率（ε≥0.85）
2.温度均匀性：工作区间300-2000K时表面温差ΔT≤1.5%
3.光谱响应特性：2-14μm波段光谱分辨率≤4nm
4.热稳定性测试：连续工作72小时性能波动≤0.02
5.角度依赖性：入射角0-85时发射率变化量δ≤0.03
检测范围
1.航天器热控涂层（多层隔热组件/辐射制冷薄膜）
2.工业高温炉衬材料（碳化硅/氧化锆基复合材料）
3.电子封装散热基板（氮化铝/金刚石复合基材）
4.红外伪装涂层（多波段兼容型功能涂料）
5.太阳能集热器吸热膜层（选择性吸收涂层）
检测方法
ASTME423-17红外光谱发射率测量规程
ISO18434-1:2008热成像系统校准方法
GB/T11158-2008高温试验箱温度性能测试方法
ASTME3053-17宽波段发射率计算标准
GB/T7287-2008红外辐射加热器测量方法
检测设备
1.FTIR光谱仪（BrukerVERTEX80v）：波长范围0.3-28μm
2.黑体辐射源校准装置（Fluke4181）：温度范围-40℃~1200℃
3.高精度测温仪（KEITHLEY2010）：分辨率0.001K
4.真空高温测试舱（ThermcraftVTH-24）：极限真空度510⁻Pa
5.半球反射率测量系统（SurfaceOpticsSOC-100）：角度精度0.1
6.瞬态平面热源仪（HotDiskTPS2500S）：导热系数测量误差≤3%
7.红外热像仪（FLIRX8580）：帧频180Hz@640512像素
8.激光闪射仪（NETZSCHLFA467）：温度范围RT~2000℃
9.多轴运动控制平台（AerotechANT130）：定位精度1μm
10.光谱辐射计（OL750-CLD）：波长精度0.05nm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
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