低阻屏蔽检测
低阻屏蔽检测摘要：检测项目1.表面电阻率：测量范围0.001Ω/sq~10^6Ω/sq，精度2%2.体积电阻率：测试电压100V~500VDC，分辨率0.1Ωcm3.电磁屏蔽效能：频率范围30MHz~18GHz，动态范围≥80dB4.接触电阻：施加压力5N~50N可调，测量精度0.5mΩ5.频率响应特性：扫频步进1MHz~1GHz分段测试检测范围1.导电橡胶/硅胶密封材料2.金属镀层高分子复合材料3.电磁屏蔽织物及导电纺织品4.电子设备机箱/机柜结构件5.航空航天用复合屏蔽材料检测方法ASTMD4935-18平面材料电磁屏
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.表面电阻率：测量范围0.001Ω/sq~10^6Ω/sq，精度2%
2.体积电阻率：测试电压100V~500VDC，分辨率0.1Ωcm
3.电磁屏蔽效能：频率范围30MHz~18GHz，动态范围≥80dB
4.接触电阻：施加压力5N~50N可调，测量精度0.5mΩ
5.频率响应特性：扫频步进1MHz~1GHz分段测试
检测范围
1.导电橡胶/硅胶密封材料
2.金属镀层高分子复合材料
3.电磁屏蔽织物及导电纺织品
4.电子设备机箱/机柜结构件
5.航空航天用复合屏蔽材料
检测方法
ASTMD4935-18平面材料电磁屏蔽效能测试规范
ISO1853:2018导电橡胶体积电阻率测定方法
GB/T12190-2021电磁屏蔽室屏蔽效能测量
IEC61788-21:2021超导材料表面电阻测试规程
GB/T2439-2023硫化橡胶导电性能试验方法
检测设备
1.KEITHLEY2450四探针电阻测试仪：表面/体积电阻率测量
2.R&SZNB20矢量网络分析仪：30MHz~20GHz屏蔽效能测试
3.AgilentE4980ALCR表：接触阻抗高频特性分析
4.EM-2100G屏蔽效能测试系统：符合IEEE299标准
5.Loresta-GXMCP-T700表面电阻测绘仪：四探针阵列扫描
6.FLUKE1587绝缘电阻测试仪：5000V耐压测试功能
7.TEMCellGTEM-1500：1GHz以下辐射敏感度测试
8.TS-1000接触电阻测试台：50N可编程压力控制系统
9.HIOKIIM3536材料阻抗分析仪：4Hz~8MHz频段测量
10.ETS-Lindgren3164-10双锥形天线系统：辐射发射测试
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析低阻屏蔽检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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