可重写光碟检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.反射率偏差：波长650nm/780nm条件下测量0.05范围波动值

2.误码率阈值：采用CLV/CAV模式测试BLER≤220ECC不可纠错率

3.记录层灵敏度：激光功率3.5-5.5mW区间写入成功率≥99.8%

4.翘曲度：径向/切向形变量≤0.6（25℃/50%RH环境）

5.耐候性测试：85℃/85%RH加速老化240小时后的数据完整性保持率

检测范围

1.CD-RW（700MB/80min可擦写光盘）

2.DVDRW（单层4.7GB/双层8.5GB介质）

3.BD-RE（25GB/50GB蓝光可擦写光盘）

4.M-DISC归档级可重写光盘

5.特殊环境用抗磁化光碟（军工/航天领域）

检测方法

1.ISO/IEC17321:2015规定光学参数测量流程

2.GB/T26243-2010光盘产品通用技术条件

3.ASTMD5272加速老化试验标准程序

4.JISX6243:2019记录介质耐久性评估方法

5.ECMA-379蓝光光盘机械特性测试规范

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050+分光光度计：0.1nm分辨率反射谱分析

2.PulstecODU-1000误码率测试仪：支持24X高速扫描模式

3.MitutoyoCrysta-ApexS574三坐标仪：0.1μm级翘曲度测量

4.ESPECPL-3J恒温恒湿箱：温度范围-40℃~150℃

5.Newport1835-C激光功率校准系统：0.1mW精度输出控制

6.KeyenceVHX-7000数字显微镜：5000倍表面缺陷观测

7.ShimadzuAGS-X万能材料试验机：10N载荷机械强度测试

8.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：纳米级沟槽深度测量

9.Agilent4294A阻抗分析仪：介质层介电常数测定

10.HitachiSU8010场发射电镜：记录层微观结构分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质