组织放射显影术检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 空间分辨率测试：最小可识别特征尺寸≤50μm（EN 462-5:2013）

2. 对比度灵敏度验证：可分辨密度差≥2%（ASTM E746-21）

3. 线性衰减系数测定：误差范围±3%（ISO 19232-5:2018）

4. 几何畸变率分析：图像变形量≤1.5%（GB/T 35389-2017）

5. 信噪比评估：SNR≥45dB（IEC 62220-1:2015）

检测范围

1. 金属材料：钛合金铸件内部气孔率（Φ0.1-5mm缺陷识别）

2. 聚合物复合材料：碳纤维层压板分层缺陷（厚度≥0.2mm）

3. 电子元器件：BGA封装焊点完整性（分辨率20μm）

4. 生物医学植入物：人工关节孔隙结构（CT值校准±10HU）

5. 航空航天构件：涡轮叶片冷却通道（直径Φ0.3mm以上）

检测方法

1. ASTM E1695-20：工业X射线成像系统性能表征

2. ISO 17636-2:2022：焊接接头数字化射线检测规程

3. GB/T 3323-2019：金属熔化焊对接接头射线照相

4. EN 12543-5:2021：工业X射线管焦点尺寸测量

5. JJG 933-2020：射线数字成像系统检定规程

检测设备

1. YXLON FF20 CT：450kV微焦点系统（体素分辨率3μm）

2. Varex XRD4343平板探测器：动态范围16bit/43cm×43cm

3. PerkinElmer XRD1621 CN3：16英寸CsI数字成像板

4. GE Phoenix v|tome|x L300：纳米焦点CT（300kV/500W）

5. Shimadzu SMX-225CT：225kV微焦点系统（5μm焦点）

6. Comet MXR-225/22：定向X射线管（225kV/0.4mA）

7. Varian PaxScan 4343R：非晶硅平板（43×43cm/127μm）

8. Nikon XT H 450：450kV CT系统（几何放大倍率200×）

9. Hamamatsu C7943CA-02：CMOS平板（120kV/50μm像素）

10. Waygate Technologies XXS-160：便携式DR系统（160kV）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质