超导性超导电性检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 临界温度（Tc）：测量材料从常态到超导态的转变温度范围（4.2K-150K），精度要求±0.01K

2. 临界电流密度（Jc）：在4.2K/77K条件下测试载流能力（10^4-10^6 A/cm²），磁场强度0-20T

3. 临界磁场（Hc）：测定破坏超导态的最小磁场强度（0.1-100T），包含下临界场Hc1和上临界场Hc2

4. 电阻率（ρ）：采用四引线法测量10^-12Ω·m级残余电阻率

5. 迈斯纳效应验证：通过磁悬浮实验测定磁化率χ≤-1的完全抗磁性

6. 交流损耗：在50-60Hz交变磁场下测量单位体积损耗值（μW/mm³）

检测范围

1. 低温超导材料：NbTi合金（4.2K）、Nb3Sn化合物（18K）等金属基材料

2. 高温超导材料：YBCO薄膜（92K）、BSCCO带材（110K）等氧化物材料

3. 铁基超导体：LaFeAsO系材料（26K）、SmFeAsO系材料（55K）

4. 超导薄膜：MgB2薄膜（39K）、NbN薄膜（16K）等功能涂层

5. 超导电子器件：SQUID磁传感器、微波谐振腔等应用产品

6. 线材/带材：ITER用CICC导体、电力电缆用REBCO带材

检测方法

1. ASTM B923-21：金属超导体临界电流密度的标准测试方法

2. ISO 14588:2017：超导材料电阻率测量的四引线法规范

3. GB/T 13811-2019：超导材料交流损耗的电磁测量法

4. IEC 61788-25:2018：REBCO带材机械性能测试规程

5. ASTM E2941-21：脉冲磁场下临界电流的测试标准

6. GB/T 22586-2008：微波表面电阻的谐振腔法测量技术

7. ISO 19841:2016：SQUID磁强计校准与操作规范

检测设备

1. Quantum Design PPMS DynaCool：实现1.9K-400K温区下的电输运与磁学测量

2. Lake Shore 475型振动样品磁强计：磁场范围±3T，灵敏度10^-6 emu

3. Oxford Instruments Teslatron PT：提供0-16T稳态磁场环境

4. Keysight B1500A半导体分析仪：支持10fA级微弱电流测量

5. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：进行晶体结构分析（精度0.0001°）

6. Cryomagnetics SM-1000超导磁体系统：产生12T背景磁场

7. Janis Research ST-500连续流低温恒温器：4.2K-325K精确控温

8. Agilent E4991A阻抗分析仪：1MHz-3GHz频段交流特性测试

9. NanOsc PhaseStation薄膜表征系统：非接触式微波表面电阻测量

10. HTS-110 TeTra磁滞回线测量仪：专用于高温超导带材Jc测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质