纯锡检测摘要:纯锡检测是保障材料性能与合规性的关键环节,涵盖成分分析、物理性能及杂质控制等核心指标。专业检测需依据ASTM、ISO及GB/T标准体系,采用X射线荧光光谱仪(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)等精密设备完成定量分析。本文系统阐述纯锡检测的关键项目、适用场景及标准化流程。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1. 纯度分析:Sn含量≥99.90%(XRF法测定)
2. 元素杂质:Pb≤0.010%、Cu≤0.005%、Bi≤0.005%(ICP-OES法)
3. 物理性能:密度7.28-7.31g/cm³(比重瓶法)、熔点231.93±0.5℃(DSC热分析)
4. 表面质量:氧化层厚度≤50nm(SEM-EDS联用)、划痕深度≤5μm(白光干涉仪)
5. 化学成分:As≤0.002%、Sb≤0.005%、Fe≤0.003%(GB/T 3260.2标准)
1. 工业级锡锭(SN99.90/SN99.95牌号)
2. 电子焊料(Sn-Cu/Sn-Ag-Cu合金体系)
3. 镀锡钢板(马口铁基材镀层厚度0.4-2.8μm)
4. 锡基轴承合金(Babbitt合金中Sn-Sb-Cu系材料)
5. 锡化工产品(二氧化锡粉末D50粒径≤5μm)
1. ASTM E1479-16:XRF法测定金属锡中主量元素
2. ISO 1053-1:2018:火花直读光谱法测定杂质元素
3. GB/T 3260.2-2013:化学滴定法测定锡锭铜含量
4. ASTM E29-20:数值修约规则在成分分析中的应用
5. GB/T 5121.27-2019:ICP-OES法测定铅、铋等痕量元素
1. Thermo Scientific Niton XL5 XRF分析仪(元素范围Mg-U,精度±0.01%)
2. PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES(检出限0.1ppm级)
3. Mettler Toledo DSC3差示扫描量热仪(温度分辨率0.1℃)
4. ZEISS Sigma 500场发射扫描电镜(放大倍数50万倍)
5. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪(角度重复性±0.0001°)
6. Agilent 7900 ICP-MS(同位素比值测定精度<0.05%)
7. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度仪(纵向分辨率0.01μm)
8. Netzsch DIL 402C热膨胀仪(膨胀系数测量精度±5%)
9. Shimadzu AG-Xplus电子万能试验机(载荷范围50N-300kN)
10. Keyence VK-X3000激光共聚焦显微镜(Z轴分辨率1nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析纯锡检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师