导电能力检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 体积电阻率测量：测试范围10^-6-10¹⁸ Ω·cm

2. 表面电阻率测定：测量精度±1% @100V测试电压

3. 电导率换算：温度补偿范围-40℃~200℃

4. 载流子迁移率分析：霍尔效应法测量精度±3%

5. 接触电阻测试：四线法分辨率0.1μΩ

检测范围

1. 金属材料：铜合金导线、铝合金导体等工业导电材料

2. 半导体材料：硅晶圆、砷化镓基板等电子级半导体

3. 导电高分子材料：聚苯胺复合材料、石墨烯改性塑料

4. 电子元器件：PCB板导通性、连接器接触阻抗

5. 绝缘材料：陶瓷基板体电阻、高分子薄膜表面漏电流

检测方法

1. ASTM D257-14：绝缘材料直流电阻测试标准方法

2. ISO 3915:1999：塑料材料体积电阻率测定规范

3. GB/T 1551-2009：硅单晶电阻率测定四探针法

4. IEC 62631-3-1:2016：纳米材料导电性能测试导则

5. GB/T 3048.3-2007：电线电缆电性能试验方法

检测设备

1. Keithley 6517B高阻计：测量范围10³-10¹⁷ Ω

2. Agilent 4338B毫欧表：四线法测量分辨率0.1μΩ

3. Jandel RM3000四探针台：自动温度补偿功能

4. Keysight B1505A功率器件分析仪：支持脉冲I-V测试

5. Mitsubishi Chemical MCP-T610表面电阻测试仪

6. HIOKI RM3545微电阻计：最大测试电流10A

7. Lake Shore 8400系列霍尔效应测量系统

8. Tektronix PA3000功率分析仪：带宽5MHz

9. FLUKE 1587C绝缘电阻测试仪：CAT IV 600V防护等级

10. BRUKER Dimension Icon原子力显微镜导电模块

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质