不导电的尘末检测摘要:不导电尘末检测是评估材料绝缘性能与安全性的关键环节,主要针对粒径分布、电阻率、化学成分等核心参数进行量化分析。检测需遵循ASTM、ISO及GB/T标准体系,涵盖高分子材料、陶瓷粉末等非导电介质,通过精密仪器确保数据可靠性及合规性。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1. 体积电阻率:测量范围106-1018Ω·cm(ASTM D257)
2. 表面电阻率:测试条件500V DC±10%(GB/T 1410)
3. 粒径分布:D10-D90值测定(ISO 13320:2020)
4. 介电强度:击穿电压≥5kV/mm(IEC 60243-1)
5. 灰分含量:高温灼烧法(850℃±25℃,GB/T 9345.1)
1. 高分子材料粉末:聚乙烯(PE)、聚四氟乙烯(PTFE)等聚合物
2. 陶瓷粉末:氧化铝(Al2O3)、氮化硅(Si3N4)
3. 矿物粉尘:云母粉、石英砂(SiO2含量≥99%)
4. 生物质粉末:木质纤维素、淀粉基材料
5. 复合材料粉尘:玻璃纤维增强塑料(GFRP)加工碎屑
1. ASTM D257-14:绝缘材料直流电阻测试规范
2. ISO 3915:2022:塑料-体积电阻率测定法
3. GB/T 1692-2008:硫化橡胶绝缘电阻率试验
4. IEC 61340-2-1:2015:静电防护材料表面电阻测量
5. GB/T 19077-2016:粒度分析激光衍射法
1. Agilent 4339B高阻计:测量范围103-1018Ω
2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:量程0.01-3500μm
3. HIOKI IR4056绝缘电阻测试仪:最大电压1000V DC
4. Netzsch STA 449F3热重分析仪:灰分测定精度±0.1%
5. Haug ESD模拟器EN61000-4-2:静电放电测试8kV接触放电
6. ZENAS ZJC-50kV耐压测试仪:电压精度±1% FS
7. Shimadzu EDX-7000 X荧光光谱仪:元素分析范围Na-U
8. Mettler Toledo XSE105电子天平:称量精度0.01mg
9. Binder FD115烘箱:温度均匀性±1℃@200℃
10. Labthink TSY-T1透湿性测试仪:湿度控制±2%RH
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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