不完全位错壁检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 位错密度测量：分辨率≤0.1μm^-2，测量误差±5%

2. 伯氏矢量分析：矢量模长精度±0.01nm

3. 位错线方向测定：角度分辨率≤0.5°

4. 位错壁间距测量：重复性误差≤50nm

5. 层错能计算：基于Frank公式的应力场反演

检测范围

1. 金属材料：304/316L不锈钢、6061铝合金

2. 半导体材料：单晶硅(111)/(100)、GaAs

3. 高温合金：Inconel 718、Hastelloy X

4. 陶瓷材料：Al₂O₃基复合材料

5. 功能薄膜：PVD/CVD沉积的TiN涂层

检测方法

1. ASTM E3-11：金相试样制备标准

2. ISO 643:2019：钢的显微晶粒度测定

3. GB/T 13298-2015：金属显微组织检验方法

4. ASTM E112-13：平均晶粒度测定规程

5. GB/T 13305-2008：不锈钢中α-相面积含量测定

检测设备

1. JEOL JEM-2100F透射电子显微镜：200kV加速电压，0.19nm点分辨率

2. FEI Quanta 250 FEG扫描电镜：1nm@30kV分辨率配置EBSD探头

3. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：Cu靶Kα辐射(λ=0.15406nm)

4. Oxford Instruments Symmetry EBSD探测器：70°倾角模式采集

5. Gatan Model 656精密离子研磨仪：0.1-5kV氩离子束减薄

6. Leica EM TXP精密切割机：最大切割力200N

7. Struers LaboPol-25金相抛光机：转速10-1500rpm无极调速

8. ZEISS Axio Imager.M2m光学显微镜：1000×油浸物镜配置

9. Hysitron TI Premier纳米压痕仪：最大载荷10mN分辨率1nN

10.Thermo Fisher Scios 2 DualBeam聚焦离子束系统：30kV Ga+离子源

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质