电荷密度差图检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 电荷密度分布：测量精度±0.01 e/ų（电子/立方埃），空间分辨率≤0.5 nm

2. 界面电荷转移量：灵敏度达10^-3 e/atom（电子/原子）

3. 局域电场强度：量程0.1-10 V/nm，误差≤5%

4. 表面功函数变化：测试范围3-6 eV（电子伏特），重复性±0.02 eV

5. 载流子浓度梯度：分辨率10^15-10^20 cm^-3

检测范围

1. 半导体异质结材料（GaN/SiC、MoS2/WSe2等）

2. 纳米复合催化材料（Pt/CeO2、Co3O4/g-C3N4等）

3. 二维层状材料（石墨烯/六方氮化硼、过渡金属硫化物等）

4. 金属氧化物薄膜（TiO2、ZnO、Al2O3等）

5. 有机-无机杂化钙钛矿材料（MAPbI3、FAPbBr3等）

检测方法

1. ASTM F1525-22：基于扫描探针显微镜的界面电荷定量分析方法

2. ISO 21363:2021：纳米颗粒表面电荷分布的X射线光电子能谱测试规程

3. GB/T 30118-2023：二维材料层间电荷转移量的拉曼光谱测定标准

4. ISO 18118:2022：表面功函数测量的紫外光电子能谱技术规范

5. GB/T 39123-2020：透射电镜电子全息术测定局域电场强度方法

检测设备

1. Bruker Icon AFM：扫描探针显微镜系统（接触模式分辨率0.1 nm）

2. Thermo Scientific K-Alpha+：X射线光电子能谱仪（能量分辨率≤0.5 eV）

3. JEOL JEM-ARM300F：球差校正透射电镜（空间分辨率0.08 nm）

4. SPECS PHOIBOS 150：紫外光电子能谱仪（功函数测试重复性±0.01 eV）

5. Renishaw inVia Qontor：共聚焦拉曼光谱系统（激光波长532/785 nm可调）

6. Park NX-Hivac：超高真空原子力显微镜（真空度≤5×10^-10 Torr）

7. Zeiss Merlin Compact：场发射扫描电镜（电子束流稳定性±0.2%）

8. Keysight 5500LS：低温强磁场SPM系统（温度范围4-400 K）

9. Horiba LabRAM HR Evolution：显微拉曼光谱仪（光谱分辨率0.35 cm^-1）

10. Oxford Instruments Cypher ES：环境控制原子力显微镜（湿度控制±1% RH）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质