半金属检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 元素含量分析：测定锑（Sb）、铋（Bi）、碲（Te）等半金属纯度（0.1ppm-99.99%）

2. 电导率测试：测量范围10³-10⁶ S/m（±0.5%精度）

3. 热导率测定：覆盖1-200 W/(m·K)区间（激光闪射法）

4. 载流子浓度：霍尔效应测试仪测量10¹⁴-10²⁰ cm⁻³载流子密度

5. 磁化率检测：振动样品磁强计测量10⁻⁷-10⁻¹ emu/g

检测范围

1. 锑基合金：锑化铟（InSb）、锑化镓（GaSb）等III-V族化合物

2. 铋系材料：铋碲合金（Bi₂Te₃）、铋硒化合物（Bi₂Se₃）

3. 碲化物半导体：碲化镉（CdTe）、碲化铅（PbTe）

4. 拓扑绝缘体：Bi₁₋ₓSbₓ合金体系

5. 热电材料：掺杂型半金属热电转换器件

检测方法

1. ASTM E3061-22《电感耦合等离子体质谱法测定高纯金属杂质》

2. ISO 22036:2020《X射线荧光光谱法测定微量元素》

3. GB/T 13301-2021《金属材料电阻系数测量方法》

4. GB/T 22588-2008《闪光法测量热扩散系数》

5. ASTM A342/A342M-18《弱磁性材料磁导率测试标准》

检测设备

1. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS：痕量元素分析（检出限0.01ppb）

2. Netzsch LFA 467 HyperFlash：激光闪射法热导率测试

3. Quantum Design PPMS DynaCool：综合物性测量系统（电阻率/霍尔效应/磁化率）

4. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：晶体结构分析（角度精度±0.0001°）

5. Keysight B2902A精密源表：纳米级电输运特性测试

6. Malvern Panalytical Zetium XRF光谱仪：多元素快速筛查

7. Lake Shore 8400系列振动样品磁强计：磁学性能表征

8. Agilent 5500 AFM/STM联合系统：表面形貌与电子态分析

9. Mettler Toledo DSC3差示扫描量热仪：相变温度测定

10. Four Dimensions Inc Model 280SI四探针测试台：薄膜电阻率测量

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质