价电子带电子检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.价带结构分析：采用X射线光电子能谱（XPS）或紫外光电子能谱（UPS），测量结合能范围0-20eV

2.费米能级定位：通过HeIα（21.2eV）激发源测定金属/半导体界面能级偏移量

3.电子态密度分布：利用角分辨光电子能谱（ARPES）测量动量分辨电子态密度

4.表面功函数测定：采用开尔文探针力显微镜（KPFM），分辨率达1meV

5.缺陷态表征：通过深能级瞬态谱（DLTS）分析缺陷能级浓度（10¹⁰-10¹⁴cm^-3）

检测范围

1.半导体材料：硅基器件、III-V族化合物（GaAs,InP等）

2.金属合金：过渡金属氧化物薄膜（TiO₂,ZnO）、高温超导材料

3.纳米材料：量子点（CdSe,PbS）、二维材料（石墨烯,MoS₂）

4.能源材料：锂离子电池电极材料（LiCoO₂,Si负极）

5.催化材料：贵金属催化剂（Pt/C,Pd/Al₂O₃）

检测方法

1.ASTME1523-15：X射线光电子能谱仪校准规范

2.ISO15472:2010：表面化学分析-X射线光电子能谱仪能量标尺校准

3.GB/T19500-2004：X射线光电子能谱分析方法通则

4.ISO18118:2015：表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的定量分析

5.GB/T28894-2012：表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱测定峰强度的方法

检测设备

1.ThermoScientificESCALABXi+：配备单色化AlKα源（1486.6eV），能量分辨率≤0.45eV

2.JEOLJAMP-9500F：场发射俄歇电子能谱仪（AES），束斑尺寸5nm

3.SPECSPHOIBOS150：半球型能量分析器，角度分辨率0.1

4.OmicronArgusCU：紫外光电子能谱系统（UPS），HeI/II双激发源

5.BrukerDimensionIcon：原子力显微镜集成开尔文探针模块（KPFM）

6.RBDInstrumentsDLTS系统：温度扫描范围80-500K，频率分辨率0.1Hz

7.ScientaOmicronDA30-L：角分辨光电子能谱仪（ARPES），角度接收范围30

8.KeysightB1500A半导体分析仪：支持准静态C-V法功函数测量

9.ULVAC-PHIVersaProbeIV：微区XPS系统，空间分辨率7.5μm

10.RHKTechnologyR9：低温STM/XPS联合系统（4.2K），能量分辨率8meV

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质