超位错宽度检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.位错线宽度测量：分辨率≤0.2nm，测量误差5%以内

2.伯格斯矢量模量计算：精度达0.01

3.位错密度统计：分析区域≥5μm，密度范围10⁶-10/cm

4.应力场分布分析：应变分辨率110⁻⁴

5.层错能关联性验证：能量计算误差≤0.5mJ/m

检测范围

1.镍基高温合金单晶叶片（CMSX-4系列）

2.钛铝合金航空紧固件（Ti-6Al-4V）

3.第三代半导体碳化硅晶圆（4H-SiC）

4.核反应堆压力容器钢（A508-III）

5.形状记忆合金医疗器械（NiTiNOL）

检测方法

1.ASTME112-13晶粒度测定法延伸应用

2.ISO25498:2018微束分析-电子背散射衍射法

3.GB/T3949-2021金属材料位错密度测定通则

4.ISO24173:2009纳米束电子衍射技术规范

5.GB/T35031-2018透射电镜薄膜样品制备规程

检测设备

1.FEITecnaiG2F20场发射透射电镜：配备GatanOriusSC200相机，可实现0.19nm点分辨率

2.JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜：支持原子级位错核心结构解析

3.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪：配置VANTEC-500探测器，最小光斑尺寸50μm

4.TSLOIMAnalysisv8.0软件：具备自动位错密度计算模块

5.GatanModel691离子减薄仪：支持双枪倾转样品制备

6.ZeissCrossbeam550聚焦离子束系统：定位精度50nm的定点制样

7.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：空间分辨率达3nm

8.Hummer6.2溅射镀膜机：可控制Pt镀层厚度1-5nm

9.FischioneModel1020等离子清洗机：保持样品表面低污染度

10.DigiSTAR旋转倾转样品台：倾转范围70，定位重复性0.1

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质