极化轴检测
极化轴检测摘要：极化轴检测是评估光学元件及机械部件偏振特性与几何精度的关键质量控制环节。核心检测参数包括轴向偏振角偏差、同心度误差及表面粗糙度等指标，需通过激光干涉仪、偏振分析仪等高精度设备实施测量。本文依据ASTM、ISO及GB/T标准体系，系统阐述工业级极化轴检测的技术规范与方法论框架。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.轴向偏振角偏差：测量范围0.5，分辨率0.01
2.同心度误差：公差等级IT5-IT7，最大允许偏差≤3μm
3.表面粗糙度：Ra0.025-0.4μm，Rz0.1-1.6μm
4.偏振消光比：动态范围30-60dB，波长覆盖400-1600nm
5.相位延迟量：测试精度λ/200@632.8nm
检测范围
1.光学元件：偏振片、波片、法拉第旋光器
2.光纤通信器件：保偏光纤连接器、光隔离器
3.半导体材料：铌酸锂晶体、钒酸钇基板
4.医疗器械：内窥镜光学系统、激光治疗仪振镜
5.航空航天部件：星载偏振相机棱镜组、惯导系统陀螺仪
检测方法
1.ASTMD7179：偏振片透射率与消光比测试规程
2.ISO10110-12：光学元件应力双折射量化分析方法
3.GB/T11297.11：激光晶体角度偏差干涉测量法
4.ISO14999-4：光学相位延迟量琼斯矩阵测量技术
5.GB/T1800.2：几何公差配合的极坐标测量体系
检测设备
1.KeysightN7788B偏振分析仪：支持40Gb/s实时偏振态分析
2.ZygoVerifireMST激光干涉仪：面形精度λ/1000RMS
3.ThorlabsPAX5710UV偏振计：190-1100nm宽谱段测量
4.MitutoyoRA-2200粗糙度仪：16nm分辨率接触式探针
5.RenishawXL-80激光跟踪仪：0.5ppm线性测量精度
6.HamamatsuC13534旋光测量系统：0.001角度分辨率
7.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：0.1nm垂直分辨率
8.Agilent8509C偏振特性测试仪：50MHz-40GHz频段覆盖
9.OlympusSTM7测量显微镜：700放大倍率带DIC功能
10.HexagonLeitzPMM-C超高精度三坐标机：MPEE=0.6+L/400μm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析极化轴检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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