交换耦合强度检测
交换耦合强度检测摘要：交换耦合强度检测是评估磁性材料界面相互作用的重要技术指标，主要涉及矫顽力、剩磁比、磁滞回线等关键参数的精密测量。本检测通过标准化方法对多层膜结构、纳米复合永磁体等材料的界面耦合效应进行定量分析，需采用振动样品磁强计、超导量子干涉仪等高精度设备完成数据采集与处理。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.矫顽力（Hc）测量：范围0.1-3000kA/m，精度0.5%
2.剩磁比（Mr/Ms）：测量分辨率达110⁻⁴
3.交换偏置场（Hex）：检测范围5-500Oe
4.界面耦合能密度：计算精度0.05mJ/m
5.磁滞回线面积：测量重复性误差≤1.2%
检测范围
1.Nd-Fe-B/Tb-Dy-Fe多层永磁合金
2.Co/Pt纳米多层膜存储介质
3.SmCo/α-Fe纳米复合永磁体
4.FeNi/FeMn交换偏置薄膜
5.MnBi/SrFe₁₂O₁₉双相纳米晶软磁材料
检测方法
ASTMA977-19振动样品磁强计法测定硬磁材料特性
ISO21778:2019超导量子干涉仪测量软磁薄膜交换耦合强度
GB/T3656-2008永磁材料磁性试验方法
GB/T13888-2009金属磁性材料矫顽力的测定
IEC60404-15:2018纳米晶复合磁性材料界面分析规范
检测设备
LakeShore7400系列振动样品磁强计：磁场范围3T，灵敏度110⁻⁶emu
QuantumDesignPPMSDynaCool系统：温度范围1.9-400K，磁场精度0.05%
MicroSenseEZ9矢量磁滞回线仪：最大磁场20kOe，角分辨率0.01
OxfordInstrumentsMagLabEXA超导量子干涉仪：磁场噪声＜3fT/√Hz
Agilent4294A阻抗分析仪：频率范围40Hz-110MHz，阻抗精度0.08%
BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：角度重复性0.0001，用于结构表征
JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜：空间分辨率0.08nm，用于界面观测
KLATencorP-7表面轮廓仪：垂直分辨率0.01，用于膜厚测量
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析交换耦合强度检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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