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可控硅柜检测

2025-04-07 关键词:可控硅柜测试标准,可控硅柜测试周期,可控硅柜项目报价 相关:
可控硅柜检测

可控硅柜检测摘要:可控硅柜作为电力电子系统的核心组件,其性能直接影响设备稳定性和安全性。专业检测需涵盖电气参数验证(如触发特性、通态压降)、绝缘强度测试及热稳定性评估等关键指标。本文依据IEC60747-6、GB/T15291等行业标准体系化解析检测流程,重点阐述阈值电压精度控制(±1.5%)、动态响应时间(≤5μs)等核心参数的测量方法。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 触发电压测试:阈值范围3-5V±2%,最小维持电流0.5-50mA可调

2. 通态电流验证:额定电流下压降≤1.8V(误差±2%)

3. 绝缘电阻测量:DC1000V条件下≥100MΩ(IEC 60664-1)

4. 温升特性测试:满负荷运行4小时温升≤65K(GB/T 13539.1)

5. 反向恢复时间测定:trr≤50μs@125℃结温(IEC 60747-6)

6. dv/dt耐受能力:≥200V/μs(ASTM F1173)

7. 门极触发延时:≤500ns(MIL-STD-750F)

检测范围

1. 电力系统用高压可控硅柜(6kV/3000A以上)

2. 工业变频器配套SCR控制单元

3. 轨道交通牵引变流器模块

4. 新能源并网逆变系统功率单元

5. 通信基站电源调压装置

6. 冶金电炉调功系统主控柜

检测方法

1. GB/T 15291-2015《半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管》规定静态参数测量流程

2. IEC 60747-6:2022确立动态特性测试的脉冲宽度调制法

3. ASTM F1173-20采用阶跃电压法评估dv/dt耐受能力

4. GB/T 2423.22-2012环境试验规范进行温度循环测试

5. IEC 61000-4-5:2014浪涌抗扰度试验(组合波1.2/50μs)

6. GB/T 17626.4-2018电快速瞬变脉冲群抗扰度测试

检测设备

1. Tektronix DPO4034数字示波器:4通道350MHz带宽,支持功率器件动态特性分析

2. Chroma 19032可编程交流电源:输出0-300V/0-20A,精度±0.05%FS

3. Hioki ST5520绝缘耐压测试仪:DC5000V/AC5000V双模式输出

4. Fluke Ti480红外热像仪:640×480分辨率,热灵敏度≤0.03℃

5. Keysight B2902A精密源表:最小电流分辨率10fA的静态参数测量系统

6. EM TEST DCS 500N8浪涌发生器:8kV组合波输出能力

7. ESPEC PL-3KPH温度冲击箱:温变速率15℃/min(GB/T 2423.22)

8. HIOKI PW3390功率分析仪:0.06%基波精度,带宽5MHz

9. Megger MIT430绝缘电阻测试仪:10TΩ量程带极化指数计算功能

10. Agilent N6705B直流电源模块:20V/50A输出带动态负载模拟功能

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析可控硅柜检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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