极间反向电流检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 反向饱和电流密度：测量范围1pA/cm²~10mA/cm²，精度±0.5%

2. 击穿电压阈值：测试电压0~10kV，步进精度0.1V

3. 温度特性曲线：-55℃~200℃温控范围内漏电流变化率

4. 时间稳定性测试：持续加载80%额定电压下72小时电流漂移量

5. 动态响应特性：纳秒级脉冲反向电流上升/下降时间测量

检测范围

1. 半导体材料：硅基晶圆、砷化镓(GaAs)、碳化硅(SiC)衬底

2. 电子元件：高压二极管、IGBT模块、晶闸管器件

3. 光伏器件：太阳能电池PN结、薄膜电池组件

4. 绝缘材料：氧化铝陶瓷基板、聚酰亚胺薄膜

5. 特殊应用器件：X射线管靶材、粒子探测器电极

检测方法

1. ASTM F1241-22《半导体器件反向漏电流标准测试规程》

2. IEC 60747-5:2020《分立器件-光电器件第5部分：击穿特性测试》

3. GB/T 4937-2022《半导体器件机械和气候试验方法》第12章

4. ISO 16750-4:2023《道路车辆电气电子设备环境条件》电压瞬变测试

5. JESD22-A108F《电子器件温度-偏置寿命试验标准》

检测设备

1. Keysight B1505A功率器件分析仪：最大10kV/1500A测试能力，支持μA级漏电流测量

2. Tektronix Keithley 4200A-SCS参数分析仪：集成SMU模块实现pA级微弱电流采集

3. Chroma 19032耐压测试系统：符合IEC61010-1标准的5kVAC/6kVDC绝缘测试

4. ESPEC T-12恒温恒湿箱：温度波动度±0.3℃，支持-70℃~180℃循环测试

5. Hioki ST5520表面电阻计：四端子法测量10³~10¹⁶Ω范围体电阻率

6. Fluke 1587 FC绝缘电阻测试仪：1000V DC下最高10TΩ测量精度

7. Agilent N6705B直流电源分析仪：20bit分辨率电压/电流输出模块

8. Thermo Scientific CEDOX高压探头：100:1分压比，带宽DC-100MHz

9. Omicron Bode100频响分析仪：10μHz~40MHz阻抗特性分析能力

10. HIOKI PW3390功率分析仪：0.05%基本精度支持瞬态功率测量

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质