电抛光检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 表面粗糙度：采用接触式轮廓仪测量Ra值（0.05-0.8μm）与Rz值（0.4-6.3μm），符合ISO 4287规定的取样长度0.8mm

2. 钝化膜厚度：通过X射线荧光光谱仪测定Cr/Fe比（1.5-3.0），膜厚测量范围2-50nm

3. 微观缺陷密度：金相显微镜下统计孔隙率（≤0.1%）、裂纹长度（＜5μm/10mm²）

4. 电化学性能：动电位极化测试获取自腐蚀电流密度（＜1×10⁻⁷A/cm²），点蚀电位≥0.8V(SCE)

5. 元素分布均匀性：EDS面扫描分析Cr/Ni/Mo元素偏析率（相对偏差≤5%）

检测范围

1. 奥氏体不锈钢：涵盖316L血管支架、304食品机械构件等医疗/食品级产品

2. 钛合金制品：包括Ti-6Al-4V骨科植入物、Gr5航空紧固件等

3. 铝合金部件：适用于6061-T6半导体腔体、7075航天结构件

4. 镍基合金组件：含Inconel 718涡轮叶片、Hastelloy C276反应釜内衬

5. 钴铬合金医疗器械：覆盖CoCrMo人工关节、牙科修复体等三类器械

检测方法

ASTM B912-17：不锈钢电解抛光层耐蚀性测试的电位扫描法

ISO 15730:2000：金属表面电解抛光粗糙度测量的非接触式干涉法

GB/T 31309-2020：电解抛光表面残余应力测试的X射线衍射法

ASTM E3-11：制备金相试样的机械研磨-电解抛光复合工艺

GB/T 4340.3-2012：电解抛光表面显微硬度测试的维氏硬度计法

检测设备

Mitutoyo SJ-410表面粗糙度仪：配备金刚石探针（曲率半径2μm），分辨率0.8nm

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：采用CuKα辐射源（λ=0.154nm），用于残余应力分析

Elcometer 456涂层测厚仪：磁感应原理测量范围0-2000μm，精度±1%

Zeiss Sigma 500场发射电镜：搭配Oxford X-MaxN 80 EDS探测器，点分辨率0.8nm

Gamry Reference 600+电化学工作站：支持10μHz-1MHz频率范围的阻抗谱测试

Keyence VK-X1000激光共聚焦显微镜：405nm激光光源实现0.01nm纵向分辨率

Instron 6800系列万能试验机：配合ASTM E8标准夹具进行抛光层结合力测试

Thermo Scientific ARL EQUINOX 1000 XRF光谱仪：可检测原子序数11(Na)-92(U)元素

Q-Lab Q-SUN Xe-3氙灯老化箱：模拟ISO 4892-2标准光照条件评估耐候性

Olympus DSX1000数码显微镜：20-7000倍连续变倍系统搭配多焦点景深扩展功能

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质