不可见光谱检测摘要:不可见光谱检测通过分析紫外、红外及太赫兹等非可见波段的物质响应特性,为材料成分分析、缺陷识别及功能性评价提供科学依据。核心检测参数包括透射率、反射率、吸收系数及辐射特性等,适用于光学器件、半导体材料、生物医学制品等领域质量控制与研发验证。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1. 紫外-可见光透过率检测:波长范围200-800nm,精度±0.3%
2. 近红外吸收光谱分析:波段900-2500nm,分辨率4cm⁻¹
3. 中远红外辐射特性测试:3-15μm波段发射率测量,不确定度≤0.02
4. 太赫兹时域光谱扫描:0.1-10THz频段复折射率测定
5. 荧光量子产率计算:激发波长覆盖250-700nm,积分球系统误差校正
1. 光学薄膜材料:包括增透膜、滤光片等镀膜器件的带外抑制比测试
2. 半导体晶圆:硅基/化合物半导体载流子浓度红外表征
3. 高分子聚合物:C-H键振动吸收峰位定量分析
4. 生物组织样本:近红外二区(NIR-II)荧光探针性能验证
5. 航天热控涂层:5-25μm波段半球发射率精确测定
1. ASTM E275紫外可见分光光度法标准操作规程
2. ISO 13468塑料材料总透光率测定通则
3. GB/T 26824-2021纳米材料红外光谱测试规范
4. ISO 18554激光诱导击穿光谱表面污染检测法
5. GB/T 36334太赫兹时域光谱材料参数测量方法
1. PerkinElmer Lambda 1050+双光束紫外可见分光光度计:波长精度±0.08nm
2. Bruker Vertex 80v真空型傅里叶红外光谱仪:4cm⁻¹分辨率模式
3. Thermo Scientific Nicolet iN10 MX显微红外成像系统:15μm空间分辨率
4. Advantest TAS7500TS太赫兹时域光谱仪:最大输出功率20mW
5. Labsphere LMS-7600积分球辐射测量系统:直径150mm镀金球体
6. Horiba Fluorolog-QM量子效率测试平台:光电倍增管响应校正功能
7. Agilent Cary 7000全能型分光光度计:支持UMA绝对反射附件
8. FLIR SC8000高速红外热像仪:640×512像素中波制冷探测器
9. Ocean Insight FX系列近红外光纤光谱仪:内置InGaAs阵列传感器
10. Specim FX50高光谱成像仪:400-1000nm波段推扫式成像
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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