磁力拉晶法检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.磁场强度均匀性：测量范围0.1-2.0T（特斯拉），轴向偏差≤3%

2.温度梯度控制精度：垂直方向梯度5-100K/cm，波动值＜0.5K/cm

3.晶体生长速率：标定范围0.1-10mm/min，分辨率0.01mm

4.熔体对流稳定性：涡流强度测量精度0.05m/s

5.晶体缺陷密度：位错密度检测下限≤10^3/cm

检测范围

1.半导体单晶材料：硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)等III-V族化合物

2.金属单晶材料：镍基高温合金、钛铝合金定向凝固件

3.光学晶体：蓝宝石(Al₂O₃)、氟化钙(CaF₂)等人工晶体

4.超导材料：钇钡铜氧(YBCO)等氧化物超导单晶

5.磁性功能材料：钕铁硼(NdFeB)永磁体定向结晶组织

检测方法

1.ASTMF1213-18《晶体生长过程磁场环境参数测定规范》

2.ISO16837:2019《材料加工用电磁场测量通用要求》

3.GB/T13301-2020《金属单晶缺陷密度测定方法》

4.GB/T39123-2020《半导体材料结晶取向X射线衍射分析法》

5.ISO21748:2017《定向凝固过程热力学参数测量指南》

检测设备

1.OxfordInstrumentsM1-1000型高精度电磁铁系统（最大场强2.5T）

2.ThermoScientificTGC-2000温度梯度控制装置（控温精度0.1K）

3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪（晶体取向分析）

4.KeysightN5227A矢量网络分析仪（电磁场分布测量）

5.ZeissSigma500场发射扫描电镜（缺陷形貌观测）

6.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线拓扑仪（位错密度测定）

7.FLIRA655sc红外热像仪（温度场实时监测）

8.Agilent34972A数据采集系统（多通道参数记录）

9.ShimadzuAG-Xplus电子万能试验机（力学性能联测）

10.RenishawinViaQontor共聚焦拉曼光谱仪（应力分布分析）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质