硅化锆检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.化学成分分析：ZrSi₂中Zr含量（68.5-70.2wt%）、Si含量（29.8-31.5wt%）、杂质元素（O≤0.5%、C≤0.3%）

2.晶体结构表征：XRD分析晶相组成（α-ZrSi₂主相≥95%）、晶格常数（a=3.780.02,c=13.250.05）

3.密度测试：阿基米德法测定体积密度（4.85-4.92g/cm）

4.热膨胀系数：20-1200℃范围内CTE测量（8.210⁻⁶/K0.3）

5.维氏硬度：1000g载荷下HV值测定（1250-1350HV0.3）

检测范围

1.高温结构陶瓷用ZrSi₂粉末（D50=5-50μm）

2.金属基复合材料中的ZrSi₂增强相

3.抗氧化涂层中的硅化锆基复合材料

4.核反应堆用ZrSi₂中子吸收材料

5.半导体器件中的硅化锆薄膜（厚度50-500nm）

检测方法

1.GB/T16535-2008《精细陶瓷化学分析方法》测定元素含量

2.ASTME1941-10(2016)X射线衍射定量相分析标准

3.ISO18754:2020《精细陶瓷密度测试方法》

4.GB/T3074.4-2016热膨胀系数激光干涉法

5.ASTMC1327-15(2020)超硬材料维氏硬度测试规范

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极，θ/θ测角仪，用于晶体结构分析

2.ThermoFisheriCAPPROICP-OES：径向观测等离子体发射光谱仪，元素定量精度0.01%

3.NetzschDIL402ExpedisSupreme：激光膨胀仪，最高温度1600℃，分辨率0.1nm

4.ShimadzuHMV-G21ST显微硬度计：最大载荷2kgf，数字图像处理系统

5.AccuPycII1340气体置换法密度计：氦气介质，重复性0.01%

6.JEOLJSM-IT800扫描电镜：冷场发射源，分辨率1nm@15kV

7.MettlerToledoTGA/DSC3+同步热分析仪：温度范围1600℃，气氛控制精度0.1%

8.BrukerD8ADVANCEDavinciXRD：Cu靶光源，LynxEye阵列探测器

9.Agilent7900ICP-MS：三级真空系统，检出限达ppt级

10.ZwickRoellZHU250万能试验机：最大载荷250kN，高温夹具系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质