结晶二氧化硅检测摘要:结晶二氧化硅检测是评估材料中α-石英、α-方石英等晶型含量的关键分析项目,涉及职业卫生、材料安全及环境监测领域。专业检测需关注样品前处理、晶型鉴别、定量精度及国际标准符合性等核心要素,重点通过X射线衍射(XRD)、红外光谱(FTIR)等技术实现精准测定。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.游离二氧化硅含量测定:采用XRD法测定α-石英含量(0.1%-100%范围)
2.多晶型分析:鉴别α-石英/方石英/鳞石英比例(检出限0.5%)
3.粒径分布测试:激光衍射法测量D10/D50/D90值(0.1-3500μm量程)
4.晶体结构表征:Rietveld全谱拟合分析晶胞参数(精度0.001)
5.表面吸附物测定:热重分析仪测定结合水/有机物含量(0.01mg分辨率)
1.建筑材料:人造石英石、陶瓷釉料、耐火砖等
2.工业粉尘:铸造砂、玻璃制造原料、喷砂磨料
3.纳米材料:气相法白炭黑、硅基复合材料
4.电子材料:单晶硅片、光伏组件封装材料
5.防护用品:防尘口罩过滤效率验证样品
ASTMD6059-2018《工作场所空气中结晶二氧化硅的红外光谱测定法》
ISO16258-2015《工作场所空气-XRD法测定可吸入结晶二氧化硅》
GBZ/T300.33-2017《工作场所空气有毒物质测定-第33部分:结晶型二氧化硅》
GB/T23263-2009《制品中石英含量的测定方法》
NIOSHManualofAnalyticalMethods7500(XRD定量分析法)
1.X射线衍射仪:RigakuSmartLab9kW,配备PDF-4+数据库
2.傅里叶红外光谱仪:ThermoScientificNicoletiS50,4cm⁻分辨率
3.激光粒度分析仪:MalvernMastersizer3000(干湿两用模块)
4.热重分析仪:PerkinElmerTGA8000(最高1000℃控温精度)
5.扫描电镜-能谱联用系统:HitachiSU5000+OxfordX-MaxN80
6.微波消解仪:CEMMARS6(支持HF酸密闭消解)
7.X荧光光谱仪:ShimadzuEDX-7000(硅元素检出限10ppm)
8.粉尘采样器:GilAirPlus(流量误差≤2%)
9.超声波分散器:BransonDigitalSonifierSFX550(20kHz可调振幅)
10.高温马弗炉:NaberthermL3/11(最高1100℃程序控温)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析结晶二氧化硅检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师
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