金膜电容器检测摘要:金膜电容器检测是评估其电气性能与可靠性的关键环节,主要涵盖电容量、耐压强度、损耗特性等核心参数。通过标准化测试方法及精密仪器分析,可验证产品是否符合IEC、GB/T等规范要求。本文系统阐述检测项目、适用材料范围、国际/国家标准及设备选型要点。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.电容量偏差测试:测量标称值与实测值偏差(5%以内)
2.耐压强度试验:直流电压500V-10kV持续60s无击穿
3.损耗角正切值(tanδ):频率1kHz下≤0.002
4.绝缘电阻测试:施加100VDC时≥10GΩ
5.温度特性分析:-55℃~+125℃范围内容量变化率≤15%
1.高频电路用超薄金膜电容器(厚度≤0.5mm)
2.高压电源模块用多层堆叠式金膜电容
3.航天级耐辐射金膜密封电容器
4.柔性电路基板用可弯曲金膜电容
5.高温环境用陶瓷基板金膜电容
1.IEC60384-8:2018《固定电容器第8部分:分规范1类陶瓷介质固定电容器》
2.GB/T6346.14-2015《电子设备用固定电容器第14部分:分规范表面安装金属化聚酯膜介质直流固定电容器》
3.ASTMD150-11(2018)《固体电绝缘材料的交流损耗特性和介电常数的标准试验方法》
4.JISC5101-1:2016《电子设备用固定电容器试验方法通则》
5.MIL-PRF-123B《电容器的通用规范》
1.KeysightE4980A精密LCR表:测量频率20Hz至2MHz的阻抗参数
2.Chroma19032耐压测试仪:输出0-5kVAC/DC电压
3.ThermotronS-1.2温控试验箱:温度范围-70℃~+180℃
4.Agilent4338B毫欧表:测量10μΩ~100kΩ电阻值
5.HiokiIM3536介损测试仪:分辨率0.00001tanδ
6.Fluke1587绝缘电阻测试仪:最大量程1000GΩ
7.TektronixAFG31000函数发生器:输出频率1μHz~120MHz
8.OmicronBode100频响分析仪:相位精度0.1
9.ESPECPCT-120气候试验箱:温湿度交变控制
10.OlympusDSX1000数码显微镜:5000倍表面形貌分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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