扩散势检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.表面电位分布：测量范围10kV，分辨率≤0.1mV

2.动态响应时间：时间窗口0.1ms-100s，误差2%

3.电荷密度梯度：精度510cm⁻

4.界面扩散系数：温度范围-50℃~300℃，重复性误差≤3%

5.电场强度衰减率：量程0.1-100kV/mm，线性度R≥0.995

检测范围

1.半导体材料（硅基/化合物半导体晶圆）

2.薄膜涂层（ITO/PEDOT:PSS导电膜）

3.电化学储能器件（锂离子电池隔膜/固态电解质）

4.生物医用材料（骨植入物表面改性层）

5.功能陶瓷（压电/热释电材料）

检测方法

1.ASTMF398-22：非接触式表面电位扫描规程

2.ISO21360:2018：真空环境下电荷迁移率测定

3.GB/T22319-2023：电化学阻抗谱法测量界面扩散势

4.ASTME2865-19(2024)：瞬态电场衰减分析法

5.GB11297.5-2021：激光诱导表面电势测试方法

检测设备

1.Kelvin探针力显微镜（KV-9800）：纳米级表面电位成像

2.高精度静电计（KEITHLEY6517B）：10⁻⁷A电流分辨率

3.瞬态电场分析仪（TrekModel347）：100kV脉冲电场发生模块

4.真空探针台（LakeShoreCRX-6.5K）：低温至650℃环境控制

5.激光多普勒测速系统（PolytecMSA-600）：非接触式电荷运动追踪

6.原子力电化学工作站（BrukerDimensionIcon）：原位电化学-AFM联用

7.X射线光电子能谱仪（ThermoESCALABXi+）：表面元素价态分析

8.太赫兹时域光谱仪（AdvantestTAS7500SU）：宽频介电响应测量

9.微区光致发光系统（HoribaLabRAMHREvolution）：载流子扩散长度测定

10.同步辐射掠入射装置（SSRFBL08U1-A）：界面原子级扩散行为表征

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质