等效突变型折射率差检测摘要:等效突变型折射率差检测是评估光学材料及器件性能的关键技术之一,主要用于分析材料内部折射率分布的均匀性与突变特性。核心检测参数包括折射率偏差值、温度稳定性及波长响应范围等,适用于光学玻璃、光纤预制棒及功能性涂层材料的质量控制与研发验证。本检测遵循ASTM、ISO及GB/T标准方法,确保数据准确性与可追溯性。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.等效折射率偏差值:测量范围0.0005@632.8nm波长
2.温度稳定性系数:测试区间-40℃~120℃,精度0.0001/℃
3.波长响应离散度:覆盖400-1600nm光谱范围
4.轴向分布均匀性:分辨率达0.1μm/点
5.界面突变梯度值:最大可测梯度Δn=0.05/μm
1.光学玻璃基板(透镜/棱镜毛坯)
2.聚合物光学薄膜(AR/IR滤光膜)
3.非线性晶体材料(LiNbO₃/KTP晶体)
4.光纤预制棒芯层结构
5.纳米功能涂层(防反射/高反射镀层)
1.ASTMD542-14《透明塑料折射率测试标准》
2.ISO14782-2016《塑料雾度与透光率测定》
3.GB/T7962.20-2010《无色光学玻璃测试方法第20部分:折射率》
4.ISO10110-5:2015《光学元件表面缺陷公差》
5.GB/T18311.3-2001《纤维光学器件基本试验第3部分:折射率分布测量》
1.J.A.WoollamM-2000UI全自动椭偏仪:支持190-1700nm宽谱薄膜分析
2.ZygoVerifireXP-D激光干涉仪:λ/1000表面形貌分辨率
3.AgilentCary7000全能型分光光度计:5~75入射角调节精度
4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:120nm纵向分辨率
5.EXFONR-9200光纤折射率分析仪:单模/多模光纤专用测试
6.MalvernPanalyticalX'PertMRD高分辨X射线衍射仪
7.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼光谱仪
8.BrukerContourGT-K光学轮廓仪
9.ThorlabsPM320E偏振敏感功率计
10.KeysightN5227APNA网络分析仪(毫米波频段)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析等效突变型折射率差检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师