覆铜箔层压板检测摘要:覆铜箔层压板是印制电路板(PCB)的核心基材,其性能直接影响电子设备的可靠性与稳定性。专业检测涵盖物理性能、电气性能及环境适应性等关键指标,包括厚度均匀性、剥离强度、介电常数等参数。本文依据ASTM、IPC及GB/T标准体系,系统阐述检测项目、方法及设备选型要求。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.厚度偏差:测量基材总厚度及铜箔厚度,公差范围±5%(典型值0.05-3.2mm)
2.剥离强度:铜箔与基材结合力测试,标准值≥1.0N/mm(35μm铜箔)
3.介电常数:1MHz下Dk值2.5-4.5(FR-4材料典型值)
4.耐热性:T288热分层时间>60min(无铅焊接要求)
5.弯曲强度:纵向/横向≥400MPa(1.6mm厚度试样)
1.FR-4环氧树脂玻璃布基覆铜板
2.CEM-3复合环氧树脂基覆铜板
3.聚酰亚胺柔性覆铜板(FCCL)
4.高频PTFE基覆铜板(罗杰斯RO4000系列)
5.金属基覆铜板(铝基/铜基散热型)
1.ASTMD1867:覆铜板剥离强度标准试验方法
2.IPC-TM-6502.4.8:热应力分层测试方法
3.GB/T4722:印制电路用覆铜箔层压板试验方法
4.IEC61189-3:电子材料介电性能测试规范
5.JISC6481:覆铜层压板尺寸稳定性测试标准
1.Instron5967万能材料试验机(剥离强度/弯曲强度测试)
2.AgilentE4991A阻抗分析仪(介电常数/损耗因子测量)
3.MitutoyoLitematicVL-50测厚仪(精度±1μm)
4.ESPECPCT-100A压力蒸煮试验箱(耐湿热老化测试)
5.NetzschDMA242E动态热机械分析仪(Tg玻璃化转变温度测定)
6.OlympusBX53M金相显微镜(树脂流动度/纤维编织分析)
7.HiokiIM3570绝缘电阻测试仪(表面/体积电阻率测量)
8.XenonArcQ-SUNXe-3-HS氙灯老化箱(耐候性测试)
9.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪(CTE热膨胀系数测定)
10.KeysightN5227A矢量网络分析仪(高频介电特性测试)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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