导电件检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 导电性能测试：测量体积电阻率（0.01-100μΩ·m）与表面电阻率（10^3-10^12Ω/sq），使用四探针法测定

2. 机械强度验证：包括拉伸强度（≥200MPa）、屈服强度及延伸率测试（应变速率0.00025-0.025/s）

3. 耐腐蚀评估：中性盐雾试验（48-96h）、二氧化硫腐蚀试验（浓度25±5ppm）

4. 温升特性分析：通流试验（额定电流1.5倍）监测温度变化（ΔT≤30K）

5. 表面质量检测：粗糙度测量（Ra≤0.8μm）、镀层厚度测定（XRF法精度±0.1μm）

检测范围

1. 金属基材：铜合金（C11000/C5191）、铝合金（6061/7075）、不锈钢（304/316L）

2. 复合材料：银镍(AgNi10)、银氧化锡(AgSnO2)、铜石墨(Cu-C)等电接触材料

3. 电子元件：PCB金手指、半导体引线框架、接插件端子

4. 连接器件：高压开关触头、继电器触点、电池连接片

5. 表面处理层：镀金层（0.05-3μm）、镀银层（5-20μm）、化学镀镍层

检测方法

1. ASTM B193-20《标准电阻率测试方法》规定导体材料直流电阻测量规范

2. GB/T 228.1-2021《金属材料拉伸试验》规定应变速率控制要求

3. ISO 9227:2022《人造大气腐蚀试验》包含中性盐雾与循环腐蚀测试程序

4. IEC 60512-5-2:2016《电子设备连接器温升试验方法》规定接触件发热量测标准

5. GB/T 6462-2005《金属覆盖层厚度测量显微镜法》明确横截面金相分析法

检测设备

1. RTS-9型四探针电阻测试仪：量程10^-6~10^6Ω·cm，分辨率0.01μΩ·m

2. Instron 5967双立柱万能试验机：最大载荷50kN，配备高温夹具(-70~300℃)

3. Q-FOG CCT1100循环腐蚀箱：支持盐雾/干燥/湿热多模式复合试验

4. FLIR T865红外热像仪：热灵敏度≤40mK，测温范围-40~1500℃

5. Mitutoyo SJ-410轮廓仪：Z轴分辨率0.01μm，可测Ra/Rz/Rmax参数

6. Fischer XDV-SDD X射线测厚仪：探测元素范围Na-U，精度±1%

7. Keysight B2902A精密源表：最小电流分辨率10fA，支持脉冲测试模式

8. Zeiss EVO MA15扫描电镜：二次电子分辨率3nm，配备EDS能谱分析模块

9. Netzsch DIL402C热膨胀仪：膨胀量测量精度±0.05μm，最高温度1600℃

10.HIOKI RM3545电阻计：四线法测量模式，基本精度±0.06%rdg±0.03%fs

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质