表面粗糙度及其检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

Ra（算术平均偏差）：表征轮廓在取样长度内与基准线的平均绝对偏差值（0.025-6.3μm）

Rz（最大高度）：单个取样长度内最高峰与最深谷的垂直距离（0.1-25μm）

Rq（均方根粗糙度）：轮廓偏离基准线的均方根值（精度3%）

Rt（总高度）：评估长度内最高峰与最低谷的垂直距离（测量范围0.05-40μm）

Rv（谷深）：轮廓最低点相对于基准线的最大深度值（分辨率0.01μm）

检测范围

金属加工件：轴承滚道面（Ra0.1-0.4μm）、齿轮啮合面（Rz3.2-6.3μm）

工程塑料件：密封环端面（Ra0.8-1.6μm）、滑块导轨面（Rz10-25μm）

精密陶瓷基板：半导体封装基板（Ra≤0.05μm）、热压烧结件（Rz0.4-1.0μm）

复合材料构件：碳纤维增强件表面（Ra1.6-3.2μm）、金属基复合涂层（Rz6.3-12.5μm）

光学元件：非球面镜片（Ra≤0.01μm）、衍射光栅（Rz≤0.05μm）

检测方法

接触式测量法：ISO3274:1997规定的触针式轮廓仪法（测力0.75mN20%）

光学干涉法：ASTME2387-19规定的白光干涉三维测量技术

激光散射法：GB/T10610-2009规定的表面散射光强分析法

比较样块法：GB/T3505-2009规定的目视/触觉比对法（样块等级N1-N12）

原子力显微术：ISO25178-604:2013规定的纳米级三维形貌重建方法

检测设备

MitutoyoSJ-410表面粗糙度测量仪：触针半径2μm，最大量程800μm

TaylorHobsonFormTalysurfi系列：分辨率0.8nm，符合ISO4288标准

BrukerContourGT-K光学轮廓仪：垂直分辨率0.1nm，支持ISO25178标准

ZeGagePlus激光干涉仪：测量速度50mm/s，重复精度0.5nm

OlympusLEXTOLS5000激光显微镜：12000光学放大倍率，符合JISB0671标准

KeyenceVK-X3000共聚焦显微镜：Z轴分辨率1nm，支持ASTMF1811标准

Hommel-EtamicT8000多功能测量系统：集成接触/非接触模块，满足GB/T1031要求

MahrMarSurfLD260便携式粗糙度仪：测针测力0.7mN，符合DINENISO4287规范

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质