电晕计数器检测
电晕计数器检测摘要：电晕计数器检测是评估材料表面电晕处理效果的关键技术手段，涵盖放电强度、均匀性及稳定性等核心指标。本文从检测项目、适用范围、方法标准及设备选型四方面系统阐述技术要点，重点解析薄膜材料、高分子基材等领域的表面改性质量控制要求。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
电晕处理强度：测量范围0-200 W·min/m²，分辨率±0.5%
放电均匀性：扫描精度±1.5 mm/m²，重复性误差≤3%
衰减率测试：时间跨度0-720小时，温控范围20-80℃
表面能变化：接触角测量精度±0.5°，达因值范围30-72 mN/m
残留电荷量：静电电位测量±0.1 kV，衰减时间常数≤60s
检测范围
塑料薄膜：BOPP/PET/PE基材厚度8-250μm
金属化基材：镀铝膜/真空镀层厚度50-500nm
高分子材料：PP/PS/PVC板材厚度0.5-5mm
印刷包装材料：复合膜/纸塑复合材料克重80-400g/m²
医用材料：透析膜/防护服涂层孔隙率0.1-10μm
检测方法
ASTM D257-14：绝缘材料表面电阻率测定
ISO 8296:2003：塑料薄膜表面张力测试规范
GB/T 14216-2008：塑料膜润湿张力试验方法
ASTM D5946-17：电晕处理聚合物薄膜标准规程
GB/T 37841-2019：等离子体改性材料性能评价通则
检测设备
Electro-Technic BD-20A：高频放电测试仪（20kHz/5kW）
SURFACE TENSION TESTER Model B：全自动达因笔测试系统
Trek Model 542A-1：非接触式静电电位分析仪
Labthink i-Thermo 6800：恒温老化试验箱（容积800L）
BYK-Gardner Wave-scan DOI：表面均匀性分析系统（激光波长650nm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
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