二氧化钨检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.纯度测定：采用X射线荧光光谱法（XRF）测定WO₂含量≥99.5%

2.晶型结构分析：通过X射线衍射（XRD）确认单斜相/四方相比例≥98%

3.粒径分布测试：激光粒度仪测定D50值控制在0.5-3.0μm范围

4.比表面积测定：BET法测试比表面积≥15m/g

5.杂质元素分析：ICP-MS检测Fe、Ni、Mo等金属杂质≤200ppm

检测范围

1.钨基合金原料：用于航天发动机喷嘴制造的高纯WO₂粉末

2.电致变色材料：建筑智能玻璃用纳米级WO₂薄膜

3.催化剂载体：石化行业加氢脱硫催化剂载体材料

4.陶瓷复合材料：高温炉具用WO₂-Al₂O₃复合陶瓷

5.光电涂层材料：太阳能电池电极用磁控溅射靶材

检测方法

1.ASTME975-20金属粉末X射线衍射定量相分析标准

2.ISO14703:2023精细陶瓷颗粒尺寸分布测定通则

3.GB/T13221-2008纳米粉末比表面积的测定方法

4.ASTMD3942-22电感耦合等离子体质谱法测定金属杂质

5.GB/T26050-2010硬质合金化学分析方法总则

检测设备

1.PANalyticalX'PertPowderX射线衍射仪：晶相结构定量分析（角度范围5-140）

2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：0.01-3500μm粒径分布测试

3.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪：BET法比表面积测量精度1%

4.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：ppt级痕量元素检测能力

5.HitachiSU5000场发射电镜：纳米级形貌观测（分辨率1nm）

6.NetzschSTA449F5同步热分析仪：热重-差热同步测量（温度范围RT-1600℃）

7.BrukerS8TIGERXRF光谱仪：元素分析精度0.01%

8.AgilentCary7000紫外可见分光光度计：光学性能测试（波长范围175-3300nm）

9.MettlerToledoT90电位滴定仪：氧化还原滴定精度0.1μL

10.AntonPaarLitesizer500纳米粒度仪：动态光散射法测量1nm-10μm颗粒

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质