电厚度仪检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.导电涂层厚度测量：量程0.1-500μm|精度(1%+0.5μm)

2.绝缘介质层厚度：分辨率0.1μm|重复性≤2%

3.多层复合结构分层测量：最大穿透层数8层|层间识别精度3μm

4.表面粗糙度补偿测量：Ra值补偿范围0.05-6.3μm

5.基底材料影响校正：支持钢/铝/铜/塑料等基底补偿算法

检测范围

1.金属表面处理：镀锌层/阳极氧化膜/化学镀镍层

2.电子元器件：PCB阻焊层/芯片封装胶厚/引线框架镀层

3.光学薄膜：ITO导电膜/AR增透膜/防眩光涂层

4.工业防腐涂层：环氧树脂/聚氨酯/氟碳涂料体系

5.新能源材料：锂电池隔膜/光伏背板/PVDF薄膜

检测方法

ASTMB499-09(2021)磁性法测量非磁性基底金属镀层厚度

ISO2360:2017非导电基体上非磁性金属镀层的涡流测量法

GB/T4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性法

GB11378-2005金属覆盖层厚度测量β射线反向散射法

ISO3497:2000金属镀层X射线光谱测量法

检测设备

1.FischerMP0R：四探头复合式测厚仪|磁感/涡流双模|0.5μm精度

2.Elcometer456：数字式涂层测厚仪|F型/N型探头|温度补偿功能

3.Olympus38DLPLUS：超声脉冲回波测厚仪|0.15-500mm量程

4.DefelskoPosiTector6000：电磁感应原理|IP67防护等级

5.HitachiX-MET8000：XRF荧光测厚仪|元素分析+厚度测量双功能

6.MitutoyoLITEMATICHG-103：激光干涉测厚系统|0.01μm分辨率

7.KeyenceLK-G5000：激光位移传感器|50kHz高速采样率

8.Panametrics-NDT36DL：高频超声测厚仪|φ3mm微型探头

9.OxfordInstrumentsCM12：β射线反向散射仪|放射性同位素源

10.BrukerDektakXT：探针式轮廓仪|16垂直分辨率

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质