自由空间法测介电常数检测摘要:自由空间法测介电常数是一种非接触式高频材料电磁特性测试技术,适用于宽频带(1-40 GHz)下介电参数的精确测量。该方法通过分析电磁波在材料表面的反射/透射特性计算复介电常数(ε'和ε''),核心要点包括校准精度控制、样品表面平整度要求以及环境温湿度补偿技术。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
复介电常数实部(ε'):测量频率范围1-40GHz,分辨率0.05
复介电常数虚部(ε''):损耗因子测量精度3%
损耗角正切(tanδ):动态范围10⁻⁴-10
温度相关性测试:-40℃至+150℃温控条件下ε'变化率
各向异性测试:X/Y/Z轴向介电参数差异度分析
微波介质陶瓷:Al₂O₃基、BaTiO₃基等5G滤波器材料
高分子复合材料:PTFE/玻璃纤维层压板(FR-4替代材料)
半导体材料:GaN晶圆(0.1-0.5mm厚度)
雷达吸波材料:碳基复合涂层(厚度0.3-3mm)
航空航天用隔热材料:二氧化硅气凝胶(孔隙率>90%)
ASTMD5568-22:标准自由空间法测量程序(8.2-40GHz)
ISO13409:2017:毫米波频段(30-300GHz)扩展测量规范
GB/T12636-2021:微波介质材料复介电常数测试通则
GB11297.11-2021:航天器用隔热材料电磁参数测试方法
IEEEStd287-2020:精密同轴空气线校准技术规范
KeysightN5227BPNA网络分析仪:300kHz至67GHz矢量网络分析
FlukePM6681铷钟频率合成器:时基稳定度≤110⁻/天
R&SATS1500C暗室系统:1-110GHz静区Φ600mm800mm
Anritsu3740A双脊喇叭天线:18-40GHz增益20dBi0.5dB
TDK-LambdaGENH600温控平台:0.1℃控温精度
MitsubishiPA6J聚四氟乙烯校准件:ε'=2.080.02@10GHz
NSI2000平面波发生器:幅度波动≤0.25dB@40GHz
Agilent85052D校准套件:3.5mm接口TRL校准标准
Emerson1480A六轴机械臂:定位精度0.01mm/0.01
SchottD263T参考基板:厚度公差5μm@500μm厚度
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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