光谱信息检测
光谱信息检测摘要：光谱信息检测是通过分析物质与电磁波的相互作用，获取材料组成与结构特征的核心技术。本文系统阐述检测项目、适用材料、标准方法及设备选型，涵盖元素分析、分子光谱测定等关键参数，适用于金属、半导体、生物样本等五大类物质的定量与定性检测，严格遵循ASTM、ISO及国家标准体系。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
元素组成分析（波长范围：200-900nm，检测限：0.1ppm）
分子结构表征（波数范围：400-4000cm⁻¹，分辨率≤2cm⁻¹）
表面成分测定（深度分辨率：0.5-5nm，空间分辨率≤1μm）
光学性能检测（透过率精度±0.5%，反射率重复性≤1%）
痕量污染物分析（检测限：ppb级，RSD＜3%）
检测范围
金属材料：铝合金成分分析，不锈钢表面氧化层检测
半导体器件：硅片掺杂浓度测定，GaN薄膜厚度检测
生物医药：蛋白质二级结构分析，药物晶型鉴定
环境监测：水体重金属检测，大气VOCs分析
化学品：聚合物官能团识别，溶剂纯度验证
检测方法
X射线荧光光谱法：ASTM E1252，GB/T 16597
傅里叶变换红外光谱：ISO 18473，GB/T 6040
拉曼光谱分析：ISO 20328，GB/T 36064
紫外可见分光光度法：ISO 4787，GB/T 9721
电感耦合等离子体光谱：ASTM D1976，GB/T 21191
检测设备
PerkinElmer Spectrum Two：傅里叶红外光谱仪，检测范围7800-350cm⁻¹
Thermo Scientific Nicolet iS50：显微拉曼系统，激光波长532/785nm
Shimadzu EDX-7000：能量色散X荧光仪，元素范围Na-U
Agilent 5100 ICP-OES：等离子体发射光谱仪，检出限0.01-10ppm
Bruker SENTERRA II：共聚焦显微拉曼，空间分辨率0.8μm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析光谱信息检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
30399
