过大粒度检测
过大粒度检测摘要：过大粒度检测是材料质量控制的关键环节，重点针对颗粒物料的粒径分布、最大粒径及形貌特征进行科学分析。检测涵盖金属粉末、陶瓷原料、化工颗粒等材料，需依据ASTM、ISO、GB/T等标准，采用激光衍射、筛分法及显微成像技术，确保数据精准性和工艺适配性。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
粒径分布（D10/D50/D90值，体积基准分布曲线）
最大粒径（单颗粒最大线性尺寸，阈值＞500μm）
颗粒形貌（长径比＞3:1的异形颗粒占比）
堆积密度（松装密度与振实密度差值＞0.4g/cm³）
粒度均匀性（Span值＞1.5的分布宽度指数）
检测范围
金属粉末：钛合金粉、不锈钢粉、钴铬合金粉等增材制造原料
陶瓷原料：氧化铝、碳化硅、氮化硅等烧结前驱体
化工颗粒：催化剂载体、分子筛、树脂颗粒等
制药辅料：微晶纤维素、乳糖颗粒等固体制剂原料
建筑材料：水泥熟料、石英砂、膨胀珍珠岩等
检测方法
激光衍射法：ASTM B822-20、ISO 13320:2020、GB/T 19077-2016
动态图像分析法：ISO 13322-2:2021、GB/T 21649.2-2017
筛分法：ASTM E11-20、ISO 3310-1:2016、GB/T 6003.1-2012
显微图像法：ISO 13322-1:2014、GB/T 15445.6-2014
X射线沉降法：ISO 13317-3:2001、GB/T 5162-2021
检测设备
马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射粒度仪，量程0.01-3500μm
霍尼韦尔 CAMSIZER X2：动态图像分析系统，分辨率0.5μm
罗姆泰克 Air Jet Sieve：气流筛分仪，筛网尺寸20-4000目
日立 SU5000：场发射扫描电镜，放大倍数20-100万倍
堀场 LA-960V2：纳米粒度分析仪，Zeta电位测量功能
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析过大粒度检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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