电容耦合系数检测
电容耦合系数检测摘要：电容耦合系数检测是评估电子元件及材料绝缘性能的重要指标，涉及介电常数、介质损耗、频率响应等核心参数。检测涵盖陶瓷、薄膜、聚合物等材料，需依据ASTM、IEC、GB/T等标准，采用精密阻抗分析仪及专用夹具，确保数据准确性和重复性，适用于电容器、高频电路基板等产品的质量控制。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
介电常数（εr）：测试范围2.2-10.0@1MHz
介质损耗角正切（tanδ）：精度±0.0001@1kHz-1MHz
电容温度特性（TCC）：-55℃~+125℃温变测试
频率响应特性：10Hz-10MHz频段扫描
绝缘电阻（IR）：≥1012Ω@500VDC
检测范围
多层陶瓷电容器（MLCC）
聚丙烯薄膜电容器
高频电路基板材料（PTFE/FR4）
高压电力电容器组件
铝/钽电解电容器
检测方法
ASTM D150-11(2018)：固体电绝缘材料交流损耗特性及电容率标准试验方法
IEC 60250:1969：测量电气绝缘材料高频性能推荐方法
GB/T 1409-2006：测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下介电性能
JIS C2138-2007：塑料薄膜介电强度试验方法
MIL-PRF-123B：军用规范电容器的通用要求
检测设备
Keysight E4990A阻抗分析仪：20Hz-120MHz，基本精度0.045%
Agilent 4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz，四端对测量
Chroma 19032电容测试系统：±0.05%读数精度，100Vrms测试电压
ESPEC PCT-322温控箱：-70℃~+180℃温度循环
Tettex 2963高压绝缘电阻测试仪：0-10kV可调，1015Ω量程
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析电容耦合系数检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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